Calibration of an on-die thermal sensor
    1.
    发明授权
    Calibration of an on-die thermal sensor 有权
    校准片上热传感器

    公开(公告)号:US08734006B2

    公开(公告)日:2014-05-27

    申请号:US13039037

    申请日:2011-03-02

    IPC分类号: G01K15/00 G01K7/00

    CPC分类号: G01K15/005 G01K7/01

    摘要: A method of calibrating a thermal sensor includes setting a wafer to a control temperature. The wafer includes the thermal sensor and other chip logic. The method also includes applying power exclusively to a thermal sensor circuit, calibrating the thermal sensor, and storing a calibration result. The method also includes retrieving the calibration result upon application of power to the other chip logic.

    摘要翻译: 校准热传感器的方法包括将晶片设置为控制温度。 晶片包括热传感器和其他芯片逻辑。 该方法还包括将功率专用于热传感器电路,校准热传感器以及存储校准结果。 该方法还包括在向另一个芯片逻辑施加电力时检索校准结果。