公开(公告)号：US06564346B1

公开(公告)日：2003-05-13

申请号：US09455855

申请日：1999-12-07

申请人： Joerg Vollrath ,  Ulf Lederer ,  Peter Oswald ,  Thomas Hladschik ,  Zschunke Andreas ,  Rausch Harold

发明人： Joerg Vollrath ,  Ulf Lederer ,  Peter Oswald ,  Thomas Hladschik ,  Zschunke Andreas ,  Rausch Harold

IPC分类号： G11C2900

CPC分类号： G11C29/72 ,  G01R31/31935 ,  G11C29/56

摘要： A method for providing a compressed bit fail map, in accordance with the invention includes the steps of testing a semiconductor device to determine failed devices and transferring failure information to display a compressed bit map by designating areas of the bit map for corresponding failure locations on the semiconductor device. Failure classification is provided by designating shapes and dimensions of fail areas in the designated areas of the bit map such that the fail area shapes and dimensions indicate a fail type.

摘要翻译： 根据本发明的用于提供压缩比特失败映射的方法包括以下步骤：测试半导体器件以确定故障设备并传送故障信息以显示压缩位图，通过指定位图上的相应故障位置的区域 半导体器件。 通过在位图的指定区域中指定失效区域的形状和尺寸来提供故障分类，使得故障区域形状和尺寸表示故障类型。