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    Testing system for flip-type electronic device
    1.
    发明授权
    Testing system for flip-type electronic device 失效
    倒装电子设备测试系统

    公开(公告)号：US07757566B2

    公开(公告)日：2010-07-20

    申请号：US11865629

    申请日：2007-10-01

    申请人： Lei Li ,  Ping Chen ,  Zhi Cheng ,  Xue-Liang Zhai ,  Ming-Feng Li ,  Chang-Fa Sun ,  Dong Li ,  Yong-Zhi Tao

    发明人： Lei Li ,  Ping Chen ,  Zhi Cheng ,  Xue-Liang Zhai ,  Ming-Feng Li ,  Chang-Fa Sun ,  Dong Li ,  Yong-Zhi Tao

    IPC分类号： G01N3/32

    CPC分类号： G01M99/005

    摘要： A testing system (100) is used to test a flip-type electronic device (80). The electronic device includes a cover (802) and a main body (801). A hinge (803) connects with the cover and the main body. The testing system includes a base (10), a plummer (20), a flipping device (30) and a control device (40). The plummer is fixed on the base for locking the electronic device. The flipping device is fixed on the base for opening and closing the cover of the electronic device. The control device includes an optical fiber sensor (42) for sensing the movement of the cover of the electronic device. The control device connects with the flipping device so as to control the flipping device.

    摘要翻译： 测试系统（100）用于测试翻盖型电子设备（80）。 电子设备包括盖（802）和主体（801）。 铰链（803）与盖和主体连接。 所述测试系统包括基座（10），直立器（20），翻转装置（30）和控制装置（40）。 直立式固定在基座上用于锁定电子设备。 翻转装置固定在基座上，用于打开和关闭电子装置的盖。 控制装置包括用于感测电子设备的盖的移动的光纤传感器（42）。 控制装置与翻转装置连接，以控制翻转装置。

    Key testing apparatus
    2.
    发明授权
    Key testing apparatus 有权
    关键测试仪器

    公开(公告)号：US07743676B2

    公开(公告)日：2010-06-29

    申请号：US11945520

    申请日：2007-11-27

    申请人： Lei Li ,  Ping Chen ,  Zhi Cheng ,  Jian-Gui Wu ,  Hong-Yan Li ,  Xue-Liang Zhai ,  Chang-Fa Sun ,  Yong-Zhi Tao

    发明人： Lei Li ,  Ping Chen ,  Zhi Cheng ,  Jian-Gui Wu ,  Hong-Yan Li ,  Xue-Liang Zhai ,  Chang-Fa Sun ,  Yong-Zhi Tao

    IPC分类号： G01N19/00 ,  G01M19/00

    CPC分类号： G01M99/008

    摘要： A key testing apparatus (100) is provided. The key testing apparatus includes a base (11) and an actuator (12). The actuator includes a testing member (17) and a mounting member (18). The mounting member includes at least one base board (181) fixed to the base, a lower board (182), a mounting board (183), and a mounting sheet (185). The lower board is adjustably attached to the base board. The mounting board is adjustably attached to the lower board. The mounting sheet is adjustably attached to the mounting board. The clamping device includes a base desk (131), a clamping platform (132), at least one first clamping board (133) and second clamping board (134). The base desk is adjustably attached to the base. The clamping platform, at least one first clamping board, and at least one second clamping board are adjustably attached to the base desk.

    摘要翻译： 提供了一种密钥测试装置（100）。 钥匙测试装置包括基座（11）和致动器（12）。 致动器包括测试构件（17）和安装构件（18）。 安装构件包括固定到基座的至少一个基板（181），下板（182），安装板（183）和安装板（185）。 下板可调节地连接到基板。 安装板可调节地连接到下板。 安装板可调节地附接到安装板。 夹持装置包括底座（131），夹紧平台（132），至少一个第一夹紧板（133）和第二夹紧板（134）。 底座可调节地连接到底座。 夹紧平台，至少一个第一夹紧板和至少一个第二夹紧板可调节地附接到底座。

    Failure analysis system for printed circuit board and method using the same
    4.
    发明授权
    Failure analysis system for printed circuit board and method using the same 失效
    印刷电路板故障分析系统及其使用方法

    公开(公告)号：US07543507B2

    公开(公告)日：2009-06-09

    申请号：US11862484

    申请日：2007-09-27

    申请人： Lei Li ,  Ping Chen ,  Zhi Cheng ,  Hu Li ,  Dong Li ,  Yong-Zhi Tao ,  Lin-Sen Dong

    发明人： Lei Li ,  Ping Chen ,  Zhi Cheng ,  Hu Li ,  Dong Li ,  Yong-Zhi Tao ,  Lin-Sen Dong

    IPC分类号： G01N3/20

    CPC分类号： G01B3/18 ,  G01N3/20 ,  G01N2203/0067 ,  G01N2203/0641 ,  H05K1/0271

    摘要： A failure analysis system (900) for printed circuit board (600) includes testing equipment (100) and a monitor (200). The testing equipment includes a base (120), a fixing body (180), a supporting arm (140) and a micrometer (160). The fixing body and the supporting arm are both firmly fixed on the base. The printed circuit board is fastened to the fixing body. The micrometer is slidingly attached to the supporting arm. The micrometer has a pin (1612) at one end thereof for resisting one end of the printed circuit board. The monitor electronically connects with the printed board for receiving signals from the printed circuit board. When the pin of the micrometer reaches a certain position, the signal transmitted to the monitor is broken.

    摘要翻译： 用于印刷电路板（600）的故障分析系统（900）包括测试设备（100）和监视器（200）。 测试设备包括基座（120），固定体（180），支撑臂（140）和千分尺（160）。 固定体和支撑臂都牢固地固定在基座上。 印刷电路板固定在固定体上。 测微计滑动地附接到支撑臂。 测微计在其一端具有用于抵抗印刷电路板的一端的销（1612）。 显示器与印刷电路板电连接，用于从印刷电路板接收信号。 当千分尺的引脚达到某个位置时，传输到监视器的信号被破坏。