公开(公告)号：US08018671B2

公开(公告)日：2011-09-13

申请号：US11755948

申请日：2007-05-31

申请人： Stephen KowChiew Kuan ,  AikChuan Lim ,  Edmun ChianSong Seng ,  UttHeng Kan ,  Det Hua Wu

发明人： Stephen KowChiew Kuan ,  AikChuan Lim ,  Edmun ChianSong Seng ,  UttHeng Kan ,  Det Hua Wu

IPC分类号： G11B20/10

CPC分类号： G11B5/5526

摘要： A method to map defects is provided. A select data track of a storage medium is scanned for a defect. At least one data wedge affected by the defect on the select data track is identified. Each data wedge includes available area for writing user data defined between two servo wedges that include position information. The at least one affected data wedge is identified as unusuable.

摘要翻译： 提供了一种映射缺陷的方法。 对存储介质的选择数据轨道进行扫描以获得缺陷。 识别受选择数据轨道上的缺陷影响的至少一个数据楔。 每个数据楔包括用于写入在包括位置信息的两个伺服楔之间定义的用户数据的可用区域。 至少一个受影响的数据楔被识别为不可用。

公开(公告)号：US20080298196A1

公开(公告)日：2008-12-04

申请号：US11755948

申请日：2007-05-31

申请人： Stephen KowChiew Kuan ,  AikChuan Lim ,  Edmun ChianSong Seng ,  UttHeng Kan ,  Det Hua Wu

发明人： Stephen KowChiew Kuan ,  AikChuan Lim ,  Edmun ChianSong Seng ,  UttHeng Kan ,  Det Hua Wu

IPC分类号： G11B5/58

CPC分类号： G11B5/5526

摘要： A method to map defects is provided. A select data track of a storage medium is scanned for a defect. At least one data wedge affected by the defect on the select data track is identified. Each data wedge includes available area for writing user data defined between two servo wedges that include position information. The at least one affected data wedge is identified as unusuable.

摘要翻译： 提供了一种映射缺陷的方法。 对存储介质的选择数据轨道进行扫描以获得缺陷。 识别由选择数据轨道上的缺陷影响的至少一个数据楔。 每个数据楔包括用于写入在包括位置信息的两个伺服楔之间定义的用户数据的可用区域。 至少一个受影响的数据楔被识别为不可用。