公开(公告)号：US20160117261A1

公开(公告)日：2016-04-28

申请号：US14279538

申请日：2014-05-16

Applicant: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED

Inventor： Bhargavi Nisarga ,  Eric Loeffler

IPC: G06F12/14 ,  G06F11/22 ,  H04L9/30 ,  H04L9/08

CPC classification number: G06F12/1408 ,  G06F21/44 ,  G06F21/602 ,  G06F2212/1052 ,  H04L9/0822 ,  H04L9/3271 ,  H04L2209/26

Abstract: In an embodiment of the invention, response validation offers increased integrated circuit security by using a unique password or re-test key for every integrated circuit manufactured. Non-invasive re-test of an IC can be performed using an encryption input.

Abstract translation: 在本发明的实施例中，响应验证通过为制造的每个集成电路使用唯一的密码或重新测试密钥来提供增强的集成电路安全性。 可以使用加密输入来执行IC的非侵入式重新测试。