公开(公告)号：US20110106483A1

公开(公告)日：2011-05-05

申请号：US12610090

申请日：2009-10-30

申请人： YIYU SHI ,  Chandramouli Visweswariah ,  Jinjun Xiong ,  Vladimir Zolotov

发明人： YIYU SHI ,  Chandramouli Visweswariah ,  Jinjun Xiong ,  Vladimir Zolotov

IPC分类号： G06F19/00 ,  G01R31/00

CPC分类号： G01R31/31835

摘要： In one embodiment, the invention is a method and apparatus for selecting paths for use in at-speed testing. One embodiment of a method for selecting a set of n paths with which to test an integrated circuit chip includes: organizing the set of n paths into a plurality of sub-sets, receiving a new candidate path, and adding the new candidate path to one of the sub-sets when the new candidate path improves the process coverage metric of the sub-sets.

摘要翻译： 在一个实施例中，本发明是用于选择在速度测试中使用的路径的方法和装置。 用于选择用于测试集成电路芯片的n个路径的集合的方法的一个实施例包括：将n个路径的集合组织成多个子集，接收新的候选路径，并将新的候选路径添加到一个 当新的候选路径改进子集的过程覆盖度量时，子集的子集。