公开(公告)号：US20060180755A1

公开(公告)日：2006-08-17

申请号：US11059609

申请日：2005-02-15

申请人： Ying-Lan Chang ,  Dan-Hui Yang ,  ChaoKun Lin ,  Jean Truche ,  Jian Bai

发明人： Ying-Lan Chang ,  Dan-Hui Yang ,  ChaoKun Lin ,  Jean Truche ,  Jian Bai

IPC分类号： H01J49/16

CPC分类号： H01J49/0418

摘要： A sample support for a mass spectrometry system is described. The sample support comprises a substrate and a set of carbon nanotube regions adjacent to the substrate and configured to promote ionization of a sample on the sample support.

摘要翻译： 描述了质谱系统的样品支架。 样品载体包括基底和与基底相邻的一组碳纳米管区域，并且被配置为促进样品在样品载体上的离子化。

公开(公告)号：US20070164205A1

公开(公告)日：2007-07-19

申请号：US11333745

申请日：2006-01-17

申请人： Jean Truche ,  Gregor Overney

发明人： Jean Truche ,  Gregor Overney

IPC分类号： H01J49/26

CPC分类号： H01J49/40

摘要： A mass spectrometer system comprises an internal surface exposed to contamination and an optical sensor assembly positioned so as to monitor a reflection of optical radiation from said internal surface. A method of determining a level of contamination of an internal surface within a mass spectrometer comprises illuminating the internal surface with optical radiation, detecting optical radiation reflected from the internal surface upon illumination, determining a reflectivity value of the internal surface based on the detected optical radiation, and determining the level of contamination based on the reflectivity value.

摘要翻译： 质谱仪系统包括暴露于污染物的内表面和定位成监测来自所述内表面的光辐射的反射的光学传感器组件。 确定质谱仪内部表面的污染程度的方法包括用光辐射照射内表面，在照射时检测从内表面反射的光辐射，基于检测到的光辐射确定内表面的反射率值 ，并根据反射率值确定污染程度。