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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：WO2018088757A1
公开(公告)日：2018-05-17
申请号：PCT/KR2017/012376
申请日：2017-11-03
Applicant: (주)바이오니아
IPC: H01J49/04
CPC classification number: H01J49/04
Abstract: 본 발명은 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화(Matrix-Assisted Laser Desorption Ionization) 질량분석용 시료 플레이트 및 이를 이용한 질량분석 방법에 관한 것으로, 본 발명에 따른 시료 플레이트는 전도성 기판; 및 전도성 기판의 일 면에 형성되고, 둘 이상의 서로 상이한 유기 매트릭스가 서로 이격 배열된 유기 매트릭스 영역;을 포함한다.
Abstract translation: 本发明涉及用于基质辅助激光解吸电离质谱分析的样品板和使用该样品板的质谱分析方法。根据本发明的样品板包括导电基底; 并且在导电衬底的一侧上形成有机矩阵区域，其中至少两个不同的有机矩阵彼此间隔开。
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公开(公告)号：WO2018151439A1
公开(公告)日：2018-08-23
申请号：PCT/KR2018/001150
申请日：2018-01-26
Applicant: (주)바이오니아
Abstract: 본 발명은 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치에 관한 것으로, 상세하게, 본 발명에 따른 디스플레이 장치는 분석대상물질을 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화시켜 수득된 질량 스펙트럼인 원본 질량 스펙트럼과 매트릭스 별 매트릭스 유래 이온의 m/z(mass to charge ratio) 정보를 포함하는 데이터가 저장되는 저장부; 원본 질량 스펙트럼 수득시 사용된 매트릭스 물질 정보를 입력받는 입력부; 상기 입력부에 입력된 매트릭스 물질 정보를 수신하고, 상기 저장부와 연동하여, 상기 입력부를 통해 입력된 매트릭스 물질 정보에 따라, 상기 원본 질량 스펙트럼에서 해당 매트릭스 물질의 매트릭스 유래 이온의 m/z(mass to charge ratio)에 해당하는 피크를 제거하여, 노이즈가 제거된 질량 스펙트럼인 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 생성하는 신호처리부; 및 상기 신호처리부로부터 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 수신하고 이를 출력하는 출력부;를 포함한다.
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公开(公告)号：WO2019160326A1
公开(公告)日：2019-08-22
申请号：PCT/KR2019/001759
申请日：2019-02-13
Applicant: (주)바이오니아
Abstract: 본 발명에 따른 기체 시료 분석 장치 및 기체 시료 분석 방법은 분석을 위한 기체 시료의 적절한 농도, 즉, 기체 시료를 요구 농축량으로 농축할 수 있도록 하는 유량 및 시간을 추정할 수 있음에 따라, 기체 시료의 농축 시간을 포함하여 전체 분석 시간을 현저히 감소시킬 수 있는 효과가 있으며, 정량분석에 요구되는 적절한 양의 시료가 농축되고 분석되게 하여 분석의 정밀도를 높이고, 전반적인 분석 효율이 저하되는 문제를 방지할 수 있다.
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公开(公告)号：WO2018151556A1
公开(公告)日：2018-08-23
申请号：PCT/KR2018/001981
申请日：2018-02-14
Applicant: (주)바이오니아
Abstract: 본 발명에 따른 MALDI 질량분석용 시료 플레이트는 플라스틱 절연판을 통해 분석대상 시료가 로딩될 금속닷과 금속배선을 서로 분리 위치시키고, 이들을 비아 또는 금속부를 통해 전기적으로 연결함으로써, 타겟(금속닷)에 레이저를 조사할 시 금속 모제를 사용한 시료 플레이트 대비 플레이트의 내부로 전달되는 에너지를 감소시켜 타겟으로 레이저 에너지를 집중시킬 수 있으며, 열 손실을 최소화할 수 있는 효과가 있다.
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公开(公告)号：WO2018084511A1
公开(公告)日：2018-05-11
申请号：PCT/KR2017/012053
申请日：2017-10-30
Applicant: (주)바이오니아
Abstract: 본 발명은 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화(Matrix-Assisted Laser Desorption Ionization) 질량분석 방법에 관한 것으로, 상세하게, 본 발명에 따른 질량분석 방법은 분석대상물질을 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화시켜 질량 스펙트럼을 얻되, 둘 이상의 서로 상이한 매트릭스 각각을 이용하여 분석대상물질의 질량스펙트럼인 검출 스펙트럼을 얻는 단계; 및 각 검출 스펙트럼에서 해당 매트릭스의 피크를 제거하여 매트릭스-제거 스펙트럼을 수득한 후, 서로 상이한 매트릭스 별 매트릭스-제거 스펙트럼을 기반으로 분석대상물질의 보정된 질량스펙트럼을 얻는 단계;를 포함한다.
Abstract translation:
根据本发明的本发明，特别地，质谱分析法是一种有用的基质的激光解吸所述分析物的方法的激光解吸电离矩阵帮助（基质辅助激光解吸电离）质谱分析 通过电离获得质谱，并使用两个或更多个不同的基质中的每一个以获得作为分析物质谱的检测光谱; 并且在通过去除每个检测光谱中的对应矩阵的峰值而获得基体去除光谱之后，基于彼此不同的基体耗尽光谱来获得分析物的校正质谱。 p>
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