公开(公告)号：WO2022058570A1

公开(公告)日：2022-03-24

申请号：PCT/EP2021/075730

申请日：2021-09-17

Applicant: ADVANCED MAGNETIC INTERACTION, AMI

Inventor： DUPRE LA TOUR, Jean-Marie ,  HAUTSON, Tristan

IPC: G06F3/0354 ,  G06F3/041 ,  G06F3/046 ,  G06F3/044

Abstract: L'invention porte sur un procédé de suivi d'une extrémité (4) d'un ustensile (3) muni d'un objet magnétique (6), dans lequel on détermine un paramètre K(tn) représentatif d'un contact entre l'extrémité (4) et une surface de référence d'un capteur tactile (20), et lorsque le contact est détecté : on détermine une valeur effective D1 (k+1) de la distance D1 entre l'extrémité (4) et l'objet magnétique (6), à partir d'une valeur D1I(k+1) d'une distance dite projetée D1l, entre la position PA(tn) de l'objet magnétique (6) et une position PI(tn) d'un point d'intersection (1) entre la surface de référence (2) et une droite colinéaire au moment magnétique m(tn), puis on met à jour la valeur enregistrée de la distance D1 à partir de la valeur effective D1 (k+1) déterminée de la distance D1.