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    VERFAHREN ZUM ÜBERWACHEN EINES LASERSCHWEISSPROZESSES UND ZUGEHÖRIGE LASERBEARBEITUNGSMASCHINE
    3.
    发明申请
    VERFAHREN ZUM ÜBERWACHEN EINES LASERSCHWEISSPROZESSES UND ZUGEHÖRIGE LASERBEARBEITUNGSMASCHINE 审中-公开

    公开(公告)号：WO2022184415A1

    公开(公告)日：2022-09-09

    申请号：PCT/EP2022/053637

    申请日：2022-02-15

    申请人： TRUMPF LASER- UND SYSTEMTECHNIK GMBH

    发明人： KUMKAR, Malte ,  HESSE, Tim ,  HECKER, Sebastian

    IPC分类号： B23K26/03 ,  B23K26/04 ,  B23K26/0622 ,  B23K26/244 ,  B23K26/324 ,  B23K26/073 ,  B23K103/00

    摘要： Ein Verfahren zum Überwachen eines Laserschweißprozesses zum Verschwei-ßen zweier Werkstücke (2, 3), insbesondere aus Glas, Kristall, Keramik oder Glas-Metallverbindung, mittels eines Laserstrahls (4), der durch das eine Werkstück (2) hindurch in einen Grenzbereich (8) der beiden Werkstücke (2, 3) fokussiert wird, um die beiden Werkstücke (2, 3) miteinander zu verschweißen, umfasst erfin-dungsgemäß die folgenden Verfahrensschritte: - während des Schweißens Richten eines OCT-Messstrahls (15) in den Grenzbe-reich (12) neben dem Laserfokus (F) des Laserstrahls (4) oder um den Laserfo-kus (F) herum; - Bestimmen der Position einer Werkstück/Werkstück-Grenzfläche (7) zweier an-einander anliegender Werkstücke (2, 3) mit unterschiedlichen Brechzahlen (n1, n2) oder der Positionen von Werkstück/Spalt-Grenzflächen (7a, 7b) zweier durch einen Spalt (6) voneinander getrennter Werkstücke (2,3) mit gleichen oder unterschiedlichen Brechzahlen (n1; n1, n2) mittels des an der jeweiligen Grenzfläche (7, 7a, 7b) reflektierten OCT-Messstrahls (15); und - Überwachen des Laserschweißprozesses anhand der bestimmte(n) Posi-tion(en) der Grenzfläche(n) (7, 7a, 7b).

    VERFAHREN ZUM ÜBERWACHEN EINES LASERSCHWEISSPROZESSES ZUM VERSCHWEISSEN ZWEIER WERKSTÜCKE HINSICHTLICH EINES ÜBERBRÜCKTEN SPALTS
    5.
    发明申请
    VERFAHREN ZUM ÜBERWACHEN EINES LASERSCHWEISSPROZESSES ZUM VERSCHWEISSEN ZWEIER WERKSTÜCKE HINSICHTLICH EINES ÜBERBRÜCKTEN SPALTS 审中-公开

    公开(公告)号：WO2022023099A1

    公开(公告)日：2022-02-03

    申请号：PCT/EP2021/070118

    申请日：2021-07-19

    申请人： TRUMPF LASER- UND SYSTEMTECHNIK GMBH

    发明人： HESSE, Tim ,  HECKER, Sebastian

    IPC分类号： B23K26/03 ,  B23K26/0622 ,  B23K26/244 ,  B23K26/324 ,  B23K31/12 ,  B23K103/00

    摘要： Bei einem Verfahren zum Überwachen eines Laserschweißprozesses zum Verschweißen zweier für die Laserwellenlänge transparenter Werkstücke (2, 3), vorzugsweise aus Glas, wobei in den Werkstücken (1, 2) von einem gepulsten Laserstrahl (4), insbesondere Ultrakurzpulslaserstrahl, ein Schmelzvolumen (7) im Bereich der Grenzfläche (5) der beiden Werkstücke (2, 3) aufgeschmolzen wird, um eine Schweißnaht (8) zu erzeugen, und wobei die Intensität der vom Schmelzvolumen (7) emittierten Prozessstrahlung (10) detektiert wird, wird erfindungsgemäß der detektierte Intensitätsverlauf hinsichtlich mindestens eines der folgenden Merkmale ausgewertet wird: - Tiefe (ΔI) eines Intensitätsabfalls, - Dauer (Δt) eines Intensitätsabfalls, und - Wiederanstieg (17) der Intensität nach einem Intensitätsabfall, und dass anhand dieser Auswertung bestimmt wird, ob der Spalt (9) beim Laserschweißprozess überbrückt wurde oder nicht.

    VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM REGELN EINES LASERSCHWEISSPROZESSES ZUM VERSCHWEISSEN ZWEIER WERKSTÜCKE AUS GLAS
    7.
    发明申请
    VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM REGELN EINES LASERSCHWEISSPROZESSES ZUM VERSCHWEISSEN ZWEIER WERKSTÜCKE AUS GLAS 审中-公开

    公开(公告)号：WO2022023161A1

    公开(公告)日：2022-02-03

    申请号：PCT/EP2021/070536

    申请日：2021-07-22

    申请人： TRUMPF LASER- UND SYSTEMTECHNIK GMBH

    发明人： HECKER, Sebastian ,  HESSE, Tim

    IPC分类号： B23K31/12 ,  B23K26/03 ,  B23K26/0622 ,  B23K26/244 ,  B23K26/324 ,  B23K103/00

    摘要： Bei einem Verfahren zum Überwachen eines Laserschweißprozesses zum Verschweißen zweier für die Laserwellenlänge transparenter Werkstücke (2, 3), vorzugsweise aus Glas, wobei in den Werkstücken (1, 2) von einem gepulsten Laserstrahl (4), insbesondere Ultrakurzpulslaserstrahl, ein Schmelzvolumen (7) im Bereich der Grenzfläche (5) der beiden Werkstücke (2, 3) aufgeschmolzen wird, um eine Schweißnaht (8) zu erzeugen, und wobei die Intensität der vom Schmelzvolumen (7) emittierten Prozessstrahlung (10) detektiert wird, wird erfindungsgemäß der detektierte Intensitätsverlauf hinsichtlich mindestens eines der folgenden Merkmale ausgewertet: - Maximalintensität eines Intensitätspeaks (23, 24) der Prozessstrahlung (10) - die über einen Intensitätspeak (23, 24) integrierte Intensität der Prozessstrahlung (10), - Halbwertsbreite (ΔI) eines Intensitätspeaks (23, 24) der Prozessstrahlung (10), - zeitlicher Abstand (Δt) zwischen zwei Intensitätspeaks (23) der Prozessstrahlung (10) mit senkrechtem Intensitätsabfall (22), - Anzahl der zwischen zwei Intensitätspeaks (23) der Prozessstrahlung (10) mit senkrechtem Intensitätsabfall (22) befindlichen Intensitätspeaks (24) der Prozessstrahlung (10) ohne senkrechten Intensitätsabfall, und - zeitlicher Abstand (δt) zwischen dem Beginn eines Intensitätsanstiegs und einem senkrechten Intensitätsabfall (22) oder einer Intensitätsspitze (25) eines Intensitätspeaks (23) der Prozessstrahlung (10). Anhand des mindestens einen ausgewerteten Merkmals wird ein Schweißparameter angepasst oder geregelt.