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公开(公告)号：WO2019124925A1
公开(公告)日：2019-06-27
申请号：PCT/KR2018/016107
申请日：2018-12-18
Applicant: 엘지이노텍 주식회사
Inventor： 김원규
Abstract: 본 발명은 제1 센서부는 제1 홀센서와 제2 홀센서를 포함하고, 상기 제1 홀센서는 상호 위상이 다른 2개의 제1 출력값을 출력하고, 상기 제2 홀센서는 상호 위상이 다른 2개의 제2 출력값을 출력하고, 제 2 센서부는 로터의 제3 위치 검출값을 출력하고, 제어부는, 상기 2개의 제1 출력값 중 하나와 상기 2개의 제2 출력값 중 하나를 비교하고, 상기 2개의 제1 출력값을 상호 비교하고, 상기 2개의 제2 출력값을 상호 비교하고, 상기 제1 출력값에 기초한 상기 로터의 제1 위치 검출값과 상기 제2 출력값에 기초한 상기 로터의 제2 위치 검출값을 비교하고, 상기 로터의 제1 위치 검출값 및 상기 로터의 제2 위치 검출값 중 적어도 하나와 상기 제2 센서부에서 출력된 상기 로터의 제3 위치 검출값을 비교하는 센싱장치를 제공한다.
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公开(公告)号：WO2019103175A1
公开(公告)日：2019-05-31
申请号：PCT/KR2017/013359
申请日：2017-11-22
Applicant: 주식회사 파나시아
CPC classification number: B63J3/00 , B63J3/04 , G01R31/00 , G01R31/02 , G01R31/28 , G01R31/40 , G05B23/02 , G06Q50/10
Abstract: 본 발명은 선박의 전력관리시스템(PMS, Power Management System)의 고장여부를 원격에서 진단하고 해결방법을 원격으로 제시하는 진단시스템으로, 특히 직류기반으로 작동하는 PMS의 고장여부를 원격에서 진단하고 해결책을 찾아내는 원격 진단 시스템에 관한 것이다.
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公开(公告)号：WO2019095792A1
公开(公告)日：2019-05-23
申请号：PCT/CN2018/103593
申请日：2018-08-31
Applicant: 深圳市华扬通信技术有限公司
Abstract: 本发明公开了一种环形器/隔离器测试工装，包括接地板、PCB板、可调电容和高频连接器，PCB板上设有微带电路，微带电路的一端与高频连接器的插芯电连接，微带电路的另一端设有焊盘；可调电容的一端与微带电路电连接，可调电容的另一端与PCB板上的接地线电连接；PCB板和高频连接器分别固定在接地板上。本发明提供的环形器/隔离器测试工装，设置可调电容，用户在测试环形器/隔离器性能之前可利用可调电容调节高频连接器与PCB板的整体驻波，从而使环形器/隔离器的测试环境达到最佳状态，进而使环形器/隔离器的测试数据更为精确、更为可靠；结构简单、加工方便、制造成本低。
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公开(公告)号：WO2018209673A1
公开(公告)日：2018-11-22
申请号：PCT/CN2017/085020
申请日：2017-05-19
Applicant: 深圳配天智能技术研究院有限公司
Inventor： 李晓亮
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/28
Abstract: 一种现场可编程门电路的在线测试方法和现场可编程门电路，该方法包括：通过所述现场可编程门电路上的硬件接口接收上位机的配置信息(S102)；根据所述配置信息从所述现场可编程门电路中选择对应的信号源并配置采样参数(S104)；根据所述采样参数对所述信号源进行采样以得到采样数据(S106)；将所述采样数据写入现场可编程门电路内部的存储器(S108)；将所述存储器中的所述采样数据通过所述硬件接口发送至所述上位机(S110)。根据配置信息完成问题的定位，简单而准确，无需配合特定的JTAP线缆，简单实用，同时，调试方便，特别是现场调试，无需搭建特殊的硬件环境，开发者手头上无需测试仪器。
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公开(公告)号：WO2018190632A1
公开(公告)日：2018-10-18
申请号：PCT/KR2018/004242
申请日：2018-04-11
Abstract: 테스트 핸들러에서 반도체 소자에 대한 전기적인 검사를 수행하기 위해 반도체 소자들이 적재된 셔틀로부터 반도체 소자를 픽업하는 소자 픽업 모듈이 개시된다. 소자 픽업 모듈은, 하부면에 반도체 소자가 진공 흡착되고 반도체 소자의 상부 접속패드들과 전기적으로 연결되는 복수의 제1 상부 연결단자를 구비하는 상부 테스트 소켓과, 상부 테스트 소켓의 상부에 결합되고 반도체 소자를 진공 흡착하며 상부 테스트 소켓과 반도체 소자 간의 신호 전송을 제어하는 컨트롤러컨트롤부을 포함할 수 있다. 이와 같이, 소자 픽업 모듈은 반도체 소자에 접속될 수 있는 제1 상부 연결단자들을 구비함으로써, 반도체 소자를 진공 흡착하여 픽업할 뿐만 아니라 픽업한 반도체 소자에 검사 신호를 제공할 수 있다.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：WO2018135674A1
公开(公告)日：2018-07-26
申请号：PCT/KR2017/000594
申请日：2017-01-18
Applicant: 주식회사 이노글로벌
Abstract: 본 발명은 양방향 도전성 패턴 모듈에 관한 것으로, 절연성 재질의 절연층과 상기 절연층의 일측 표면 또는 양측 표면에 형성된 도전층을 갖는 복수의 베이스 기판이 상하 방향으로 적층되어 형성되는 본체와; 상기 본체에 상하 방향으로 관통 형성되는 복수의 메인 관통홀과; 각각의 상기 메인 관통홀의 내벽면 측에 도포되는 절연성 재질의 내부 절연벽과; 복수의 상기 메인 관통홀 중 적어도 하나의 내부에 그 내벽면과 해당 내부 절연벽 사이에 형성되어 복수의 상기 베이스 기판의 상기 도전층들을 상호 전기적으로 연결하는 내부 도전벽과; 상기 본체의 상부 표면에 부착되고, 복수의 상기 메인 관통홀에 각각 대응하는 복수의 상부 관통홀이 형성된 탄성을 갖는 절연성 재질의 상부 지지층과; 상기 본체의 하부 표면에 부착되고, 복수의 상기 메인 관통홀에 각각 대응하는 복수의 하부 관통홀이 형성된 탄성을 갖는 절연성 재질의 하부 지지층과; 복수의 상기 메인 관통홀에 각각 수용되되 상부 표면이 상기 상부 관통홀을 통해 상부 방향으로 노출되고 하부 표면이 상기 하부 관통홀을 통해 하부 방향으로 노출된 상태로 각각의 상기 상부 지지층 및 상기 하부 지지층에 의해 각각 지지되는 복수의 양방향 도전성 핀을 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 따라, 포고-핀 타입의 반도체 테스트 소켓을 대체가 가능하면서도 하이-스피드로의 테스트가 가능하고, 하이-스피드의 CPU와 보드 사이에서 CPU와 보드를 전기적으로 연결하는 인터포저(Interposer)에도 적용 가능하게 된다.
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公开(公告)号：WO2018133014A1
公开(公告)日：2018-07-26
申请号：PCT/CN2017/071750
申请日：2017-01-19
Applicant: 深圳市汇顶科技股份有限公司
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/28
Abstract: 一种用于矩阵排列芯片的测试装置，包括上料区（11）、下料区（12）、测试区（13）以及横跨上料区（11）、下料区（12）、测试区（13）的传送小车（14）。测试区（13）包括至少两个测试工位（131），测试工位（131）内部具有对芯片进行移位的传送轴，传送轴运动方向和传送小车（14）运动方向垂直，传送小车（14）按照各测试工位（131）的实际状态进行搬运。
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公开(公告)号：WO2018076677A1
公开(公告)日：2018-05-03
申请号：PCT/CN2017/085666
申请日：2017-05-24
Applicant: 深圳市中兴微电子技术有限公司
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/28
Abstract: 一种集成电路测试的方法、装置及存储介质，该集成电路测试的方法包括：从集成电路M个待检测节点中选择N个节点；M和N均为大于0的整数（100）；实时采集所选择的N个节点的数据，分析后得出集成电路的测试结果；或者，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，控制采集对应节点的数据，分析异常节点的检测结果和数据，确定所述集成电路的故障状态（102）。
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公开(公告)号：WO2018066292A1
公开(公告)日：2018-04-12
申请号：PCT/JP2017/032089
申请日：2017-09-06
Applicant: ローム株式会社
IPC: G09G3/04 , G01R31/28 , H01L21/822 , H01L27/04
CPC classification number: G09G3/3648 , G01R31/28 , G09G3/04 , G09G3/18 , G09G2310/0286 , G09G2310/0289 , H01L21/822 , H01L27/04
Abstract: 表示ドライバＩＣ（２００）は、ロジック回路（２）を含むデジタル回路と、前記ロジック回路の出力に応じたレベルの駆動制御信号を外部に出力する出力部（１１）と、前記デジタル回路内のレジスタのレジスタ値に異常が発生しているか否かを判定する第１判定部（２１）及び前記駆動制御信号のレベルが前記ロジック回路の出力に応じたレベルになっているか否かを判定する第２判定部（２２）の少なくとも一つと、を有する。
Abstract translation:
显示驱动器IC（200）包括一个数字电路，其包括一个逻辑电路（2），用于输出对应于输出到所述逻辑电路的外部的电平的驱动控制信号的输出单元（11） 如果，带到一个级别，其中所述第一确定部分（21）的电平，并且所述驱动控制信号确定是否所述数字电路具有根据所述逻辑电路的输出发生在该寄存器的寄存器值的异常 以及第二判断单元（22），用于判断是否存在活体。
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公开(公告)号：WO2018028033A1
公开(公告)日：2018-02-15
申请号：PCT/CN2016/101028
申请日：2016-09-30
Applicant: 意力(广州)电子科技有限公司
Inventor： 肖敏毅
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/28
Abstract: 一种基于磁性开关（6）的半成品触摸屏测试机，包括内部设有断短路测试模块和电容测试模块的工作机箱（1）、位于工作机箱（1）上的测试板（2）和测试平台（3）以及磁性开关（6），磁性开关（6）包括作为公共端的第一连接端（61）、作为常开端的第二连接端（62）和作为常闭端的第三连接端（63），其中第一连接端（61）与测试板（2）电性连接，第二连接端（62）与断短路测试模块电性连接，第三连接端（63）与电容测试模块电性连接，测试平台（3）用于放置待测产品，测试平台（3）与测试板（2）对接设置，以使待测产品与测试板（2）电性连接。该基于磁性开关（6）的半成品触摸屏测试机采用磁性开关（6）代替传统的探针作为连接器，能够减少测试机的维修频率、降低维修成本。另外，该测试机还具有兼容性高、且既可测试断短路值又可测试电容值的功能。
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