公开(公告)号：WO2021196622A1

公开(公告)日：2021-10-07

申请号：PCT/CN2020/127732

申请日：2020-11-10

申请人： HONG KONG APPLIED SCIENCE AND TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE COMPANY LIMITED

发明人： MAI, Jiangquan

IPC分类号： G01J3/12 ,  G01J2003/4538 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/4531 ,  G02B19/0014 ,  G02B19/0085 ,  G02B5/3083

摘要： Systems and methods which provide a high-throughput point source light coupling structure (120) implementing a condenser (122) configured according to one or more condenser (122) configuration rules are described. Embodiments of a high-throughput point source light coupling structure (120) utilize a birefringent plate (341, 342) configuration in combination with a condenser (122) and point source (121) to provide a light coupler structure (120) for a birefringent-static-Fourier transform interferometer implementation. According to some examples, the optical axis of a first and second birefringent plate (341, 342) of a birefringent plate (341, 342) configuration are not in the same plane. The condenser (122) of the high-throughput point source light coupling structure (120) of embodiments is provided in a defined (e.g., spaced, relational, etc.) relationship with respect to the point source (121) and/or a camera lens (131) used in capturing an interference pattern generated by the light coupling structure (120). The high-throughput point source light coupling structure (120) herein may be provided as external accessories for processor-based mobile devices (130) having image capturing capabilities.

公开(公告)号：WO2023275309A2

公开(公告)日：2023-01-05

申请号：PCT/EP2022/068176

申请日：2022-06-30

申请人： BRUKER OPTICS GMBH & CO. KG

发明人： HARIG, Roland ,  SIMON, Arno

IPC分类号： G01J3/02 ,  G01J3/28 ,  G01J3/45 ,  G01J3/453 ,  G01J2003/4538 ,  G01J3/021 ,  G01J3/4535

摘要： Die Erfindung betrifft eine FT-Spektrometer-Anordnung (1), umfassend: - eine Lichtquelle (2) für Licht (3), - ein Interferometer (5) mit wenigstens einem Strahlteiler (6) und zwei Interferometerarmen (9, 10), durch das das Licht (3) der Lichtquelle (2) geleitet wird, wobei die Interferometerarme (9, 10) jeweils einen Reflektor (7, 8) aufweisen, - eine Messprobe (12a) an einer Messposition (12), - einen Detektor (13) für das Licht (3), wobei die Messposition (12) im Strahlengang des Lichts (3) zwischen dem Interferometer (5) und dem Detektor (13) angeordnet ist, - einer Vorrichtung (11) zur Veränderung eines optischen Gangunterschieds (GU) zwischen den zwei Interferometerarmen (9, 10), - einem Referenz-Laser (22), mit dem Referenz-Laserlicht (23) durch das Interferometer (5) geleitet wird, und - wenigstens einen Referenz-Detektor (26) zum Vermessen des Referenz-Laserlichts (23), wobei der Referenz-Detektor (26) im Strahlengang des Referenz-Laserlichts (23) hinter dem Interferometer (5) angeordnet ist, die dadurch gekennzeichnet ist, dass weiterhin ein Zusatz-Detektor (14) vorgesehen ist, mit welchem ein Teilstrahl (17) des Lichts (3) vermessbar ist, welcher das Interferometer (5) passiert hat, nicht aber die Messposition (12) passiert hat, und dass mit dem Detektor (13) ein weiterer Teilstrahl (18) des Lichts (3), welcher das Interferometer (5) passiert hat und die Messposition (12) passiert hat, zeitgleich mit einer Vermessung des Teilstrahls (17) am Zusatz-Detektor (14) vermessbar ist. Mit der Erfindung ist auf einfache Weise eine hohe Messgenauigkeit bei hoher Verfügbarkeit der FT-Spektrometer-Anordnung erreichbar.