本发明涉及一种多状态测试光学头力矩器动态参数的方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先使力矩器处于自由状态；在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈或循迹线圈的幅值频率和相位频率特性曲线，得到力矩器聚焦线圈或循迹线圈的各项动态参数；在力矩器聚焦线圈和循迹线圈上施加不同的偏置电压，分别测试力矩器的动态参数。本发明的方法，更贴近力矩器的实际工作状态，测试结果更全面、准确地反映力矩器的实际工作性能。