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公开(公告)号：CN100369139C
公开(公告)日：2008-02-13
申请号：CN200510066030.3
申请日：2005-04-22
申请人： 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线，并得到力矩器聚焦线圈和循迹线圈的一阶共振频率；根据力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线判断力矩器的轴向旋转缺陷。本发明提出的光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，用于及时改进生产工艺，保证产品质量。
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公开(公告)号：CN1687989A
公开(公告)日：2005-10-26
申请号：CN200510066029.0
申请日：2005-04-22
申请人： 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种光学头力矩器动态参数的测试方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在由低到高的不同频率f下分别输出固定幅值A的正弦信号；力矩器在正弦信号的驱动下产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在上述频率f的正弦信号激励下的位移响应信号；分别绘制力矩器的幅值频率和相位频率特性曲线，在幅值频率和相位特性曲线上，得到力矩器动态参数。本发明的方法，测试速度快、测试精度高、可以测试低频至高频各个频段的动态特性，全面高精度地测试力矩器的动态性能曲线，用于评价力矩器的工作性能，实用性强。
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公开(公告)号：CN100375175C
公开(公告)日：2008-03-12
申请号：CN200510066028.6
申请日：2005-04-22
申请人： 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种多状态测试光学头力矩器动态参数的方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先使力矩器处于自由状态；在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈或循迹线圈的幅值频率和相位频率特性曲线，得到力矩器聚焦线圈或循迹线圈的各项动态参数；在力矩器聚焦线圈和循迹线圈上施加不同的偏置电压，分别测试力矩器的动态参数。本发明的方法，更贴近力矩器的实际工作状态，测试结果更全面、准确地反映力矩器的实际工作性能。
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公开(公告)号：CN1687990A
公开(公告)日：2005-10-26
申请号：CN200510066030.3
申请日：2005-04-22
申请人： 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线，并得到力矩器聚焦线圈和循迹线圈的一阶共振频率；根据力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线判断力矩器的轴向旋转缺陷。本发明提出的光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，用于及时改进生产工艺，保证产品质量。
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公开(公告)号：CN100435224C
公开(公告)日：2008-11-19
申请号：CN200610035474.5
申请日：2006-05-10
申请人： 清华大学深圳研究生院 , 江苏银河电子股份有限公司
IPC分类号： G11B7/09
摘要： 本发明提出了一种光盘垂直偏差的检测方法，属于光存储设备性能测试技术领域，其特征在于它是基于光学头力矩器电压检测来获取光学盘面垂直偏差和翘曲参数。首先，利用多普勒激光测振仪来获取光学头力矩器在聚焦方向上的幅频特性；然后进行力矩器聚焦线圈上的驱动电压与光盘翘曲关系的检测。本发明方法，具有灵敏度高，测试简单易行等特点，尤其适应于DVD/CD等各类盘片以及机芯垂直偏差和平面翘曲的检测。
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公开(公告)号：CN1949374A
公开(公告)日：2007-04-18
申请号：CN200610097258.3
申请日：2006-10-17
申请人： 江苏银河电子股份有限公司 , 清华大学深圳研究生院
摘要： 本发明公开了一种高密光盘读取头光电探测器位置的调整方法，包括：1.在光盘读写头的光路结构中，采用一个平面镜代替光盘，使平面镜反射面与物镜的光轴重直；2.移去光盘读取头光路结构中的柱面镜，调整步聚1中的平面镜与物镜之间的距离为物镜焦距，保证从半透半反镜出来的光束为一平行光；3.装上柱面镜，调整光电探测器的位置，使光电探测器感光面上各象限的输出电压信号之和最大；4.根据光电探测器感光面上各象限的输出信号加减得到的值来调整光电探测器在垂直于入射光平面的位置，最终使四个象限的输出电压相等；其优点是：该调整方法巧妙，调整方法十分简便，且光电探测器的定位精确度高。
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公开(公告)号：CN1851814A
公开(公告)日：2006-10-25
申请号：CN200610035474.5
申请日：2006-05-10
申请人： 清华大学深圳研究生院 , 江苏银河电子股份有限公司
IPC分类号： G11B7/09
摘要： 本发明提出了一种光盘垂直偏差的检测方法，属于光存储设备性能测试技术领域，其特征在于它是基于光学头力矩器电压检测来获取光学盘面垂直偏差和翘曲参数。首先，利用多普勒激光测振仪来获取光学头力矩器在聚焦方向上的幅频特性；然后进行力矩器聚焦线圈上的驱动电压与光盘翘曲关系的检测。本发明方法，具有灵敏度高，测试简单易行等特点，尤其适应于DVD/CD等各类盘片以及机芯垂直偏差和平面翘曲的检测。
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公开(公告)号：CN1687988A
公开(公告)日：2005-10-26
申请号：CN200510066028.6
申请日：2005-04-22
申请人： 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种多状态测试光学头力矩器动态参数的方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先使力矩器处于自由状态；在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈或循迹线圈的幅值频率和相位频率特性曲线，得到力矩器聚焦线圈或循迹线圈的各项动态参数；在力矩器聚焦线圈和循迹线圈上施加不同的偏置电压，分别测试力矩器的动态参数。本发明的方法，更贴近力矩器的实际工作状态，测试结果更全面、准确地反映力矩器的实际工作性能。
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公开(公告)号：CN100375182C
公开(公告)日：2008-03-12
申请号：CN200510066029.0
申请日：2005-04-22
申请人： 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种光学头力矩器动态参数的测试方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在由低到高的不同频率f下分别输出固定幅值A的正弦信号；力矩器在正弦信号的驱动下产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在上述频率f的正弦信号激励下的位移响应信号；分别绘制力矩器的幅值频率和相位频率特性曲线，在幅值频率和相位特性曲线上，得到力矩器动态参数。本发明的方法，测试速度快、测试精度高、可以测试低频至高频各个频段的动态特性，全面高精度地测试力矩器的动态性能曲线，用于评价力矩器的工作性能，实用性强。
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公开(公告)号：CN115719597A
公开(公告)日：2023-02-28
申请号：CN202110988844.1
申请日：2021-08-26
申请人： 华为技术有限公司 , 清华大学深圳国际研究生院
摘要： 本申请涉及光学技术领域，具体涉及一种光学头力矩器、光学头、光学读写系统及数据读写方法。其中，光学头力矩器包括：驱动单元、物镜架和安装于物镜架的多个物镜；驱动单元用于驱动物镜架移动，以使多个物镜将激光束聚焦到盘片上；多个物镜包括沿悬线方向并列排布的主光束物镜和伺服光束物镜悬线方向是平行于盘片的切向的方向，主光束物镜用于将主光束聚焦到盘片上，伺服光束物镜用于将伺服光束聚焦到盘片上。本申请的力矩器可以增加光学头的有效读写面积，提升光学头的数据读写效果，实现高质量的读写。
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