公开(公告)号：CN100375182C

公开(公告)日：2008-03-12

申请号：CN200510066029.0

申请日：2005-04-22

申请人： 清华大学 ,  江苏银河电子股份有限公司

发明人： 马建设 ,  汝继刚 ,  潘龙法 ,  吴建明 ,  徐端颐 ,  季建东 ,  朱建标 ,  张建勇 ,  史洪伟 ,  唐毅 ,  李莉华

IPC分类号： G11B20/00 ,  G11B21/02 ,  G01D21/00

摘要： 本发明涉及一种光学头力矩器动态参数的测试方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在由低到高的不同频率f下分别输出固定幅值A的正弦信号；力矩器在正弦信号的驱动下产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在上述频率f的正弦信号激励下的位移响应信号；分别绘制力矩器的幅值频率和相位频率特性曲线，在幅值频率和相位特性曲线上，得到力矩器动态参数。本发明的方法，测试速度快、测试精度高、可以测试低频至高频各个频段的动态特性，全面高精度地测试力矩器的动态性能曲线，用于评价力矩器的工作性能，实用性强。

公开(公告)号：CN1687988A

公开(公告)日：2005-10-26

申请号：CN200510066028.6

申请日：2005-04-22

申请人： 清华大学 ,  江苏银河电子股份有限公司

发明人： 马建设 ,  汝继刚 ,  潘龙法 ,  吴建明 ,  徐端颐 ,  季建东 ,  朱建标 ,  张建勇 ,  史洪伟 ,  李莉华 ,  唐毅

IPC分类号： G11B20/00 ,  G11B21/02 ,  G01D21/00

摘要： 本发明涉及一种多状态测试光学头力矩器动态参数的方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先使力矩器处于自由状态；在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈或循迹线圈的幅值频率和相位频率特性曲线，得到力矩器聚焦线圈或循迹线圈的各项动态参数；在力矩器聚焦线圈和循迹线圈上施加不同的偏置电压，分别测试力矩器的动态参数。本发明的方法，更贴近力矩器的实际工作状态，测试结果更全面、准确地反映力矩器的实际工作性能。

公开(公告)号：CN100369139C

公开(公告)日：2008-02-13

申请号：CN200510066030.3

申请日：2005-04-22

申请人： 清华大学 ,  江苏银河电子股份有限公司

发明人： 马建设 ,  汝继刚 ,  潘龙法 ,  吴建明 ,  徐端颐 ,  季建东 ,  朱建标 ,  张建勇 ,  史洪伟 ,  秦利琴

IPC分类号： G11B7/22 ,  G01D21/00

摘要： 本发明涉及一种光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线，并得到力矩器聚焦线圈和循迹线圈的一阶共振频率；根据力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线判断力矩器的轴向旋转缺陷。本发明提出的光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，用于及时改进生产工艺，保证产品质量。

公开(公告)号：CN1687989A

公开(公告)日：2005-10-26

申请号：CN200510066029.0

申请日：2005-04-22

申请人： 清华大学 ,  江苏银河电子股份有限公司

发明人： 马建设 ,  汝继刚 ,  潘龙法 ,  吴建明 ,  徐端颐 ,  季建东 ,  朱建标 ,  张建勇 ,  史洪伟 ,  唐毅 ,  李莉华

IPC分类号： G11B20/00 ,  G11B21/02 ,  G01D21/00

摘要： 本发明涉及一种光学头力矩器动态参数的测试方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在由低到高的不同频率f下分别输出固定幅值A的正弦信号；力矩器在正弦信号的驱动下产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在上述频率f的正弦信号激励下的位移响应信号；分别绘制力矩器的幅值频率和相位频率特性曲线，在幅值频率和相位特性曲线上，得到力矩器动态参数。本发明的方法，测试速度快、测试精度高、可以测试低频至高频各个频段的动态特性，全面高精度地测试力矩器的动态性能曲线，用于评价力矩器的工作性能，实用性强。

公开(公告)号：CN100375175C

公开(公告)日：2008-03-12

申请号：CN200510066028.6

申请日：2005-04-22

申请人： 清华大学 ,  江苏银河电子股份有限公司

发明人： 马建设 ,  汝继刚 ,  潘龙法 ,  吴建明 ,  徐端颐 ,  季建东 ,  朱建标 ,  张建勇 ,  史洪伟 ,  李莉华 ,  唐毅

IPC分类号： G11B7/22 ,  G01D21/00

摘要： 本发明涉及一种多状态测试光学头力矩器动态参数的方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先使力矩器处于自由状态；在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈或循迹线圈的幅值频率和相位频率特性曲线，得到力矩器聚焦线圈或循迹线圈的各项动态参数；在力矩器聚焦线圈和循迹线圈上施加不同的偏置电压，分别测试力矩器的动态参数。本发明的方法，更贴近力矩器的实际工作状态，测试结果更全面、准确地反映力矩器的实际工作性能。

公开(公告)号：CN1687990A

公开(公告)日：2005-10-26

申请号：CN200510066030.3

申请日：2005-04-22

申请人： 清华大学 ,  江苏银河电子股份有限公司

发明人： 马建设 ,  汝继刚 ,  潘龙法 ,  吴建明 ,  徐端颐 ,  季建东 ,  朱建标 ,  张建勇 ,  史洪伟 ,  秦利琴

IPC分类号： G11B20/00 ,  G11B21/02 ,  G01D21/00

摘要： 本发明涉及一种光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线，并得到力矩器聚焦线圈和循迹线圈的一阶共振频率；根据力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线判断力矩器的轴向旋转缺陷。本发明提出的光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，用于及时改进生产工艺，保证产品质量。