发明授权
CN100385247C 测试基片上电路
失效 - 权利终止
- 专利标题： 测试基片上电路
- 专利标题（英）： Testing circuits on substrates
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申请号： CN02820892.7申请日： 2002-10-09
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公开(公告)号： CN100385247C公开(公告)日： 2008-04-30
- 发明人: T·J·博伊尔 , W·E·里克特 , L·T·约翰逊 , L·A·汤姆
- 申请人： 伊来克格拉斯有限公司
- 申请人地址： 美国加利福尼亚州
- 专利权人： 伊来克格拉斯有限公司
- 当前专利权人： 伊来克格拉斯有限公司
- 当前专利权人地址： 美国加利福尼亚州
- 代理机构： 北京纪凯知识产权代理有限公司
- 代理商 赵蓉民
- 优先权： 10/035,457 2001.10.22 US
- 国际申请： PCT/US2002/032358 2002.10.09
- 国际公布： WO2003/036307 EN 2003.05.01
- 进入国家日期： 2004-04-21
- 主分类号： G01R31/316
- IPC分类号： G01R31/316 ; G01R31/28 ; G01R1/073
摘要：
本发明提供一种测试基片上的电路的方法。一般而言，基片位于传递卡盘(26)上，测试卡盘(32)的表面移动至与基片接触，该基片被固定到测试卡盘(32)上，测试卡盘(32)相对传递卡盘(26)移动，以便基片从传递卡盘(26)移开，基片上端子移动与触点接触，以通过端子和触点，将电路与电测试仪电连接，信号通过电测试仪和电路间的端子和触点中继，端子与触点断开，并且基片被从测试卡盘(32)上移走。
公开/授权文献
- CN1575421A 测试基片上电路 公开/授权日：2005-02-02
