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公开(公告)号：CN100354640C
公开(公告)日：2007-12-12
申请号：CN02820884.6
申请日：2002-10-09
申请人： 伊来克格拉斯有限公司
CPC分类号： G01R31/2893 , G01R31/2867 , G01R31/2887 , G01R31/2891
摘要： 本发明提供一种测试基片上的电路的方法。一般而言，基片位于传递卡盘(26)上，测试卡盘(32)的表面移动至与基片接触，该基片被固定到测试卡盘(32)上，测试卡盘(32)相对传递卡盘(26)移动，以便基片从传递卡盘(26)移开，基片上端子移动与触点接触，以通过端子和触点，将电路与电测试仪电连接，信号通过电测试仪和电路间的端子和触点中继，端子与触点断开，并且基片从测试卡盘(32)上移走。
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公开(公告)号：CN100385247C
公开(公告)日：2008-04-30
申请号：CN02820892.7
申请日：2002-10-09
申请人： 伊来克格拉斯有限公司
IPC分类号： G01R31/316 , G01R31/28 , G01R1/073
CPC分类号： G01R31/01 , G01R31/2886
摘要： 本发明提供一种测试基片上的电路的方法。一般而言，基片位于传递卡盘(26)上，测试卡盘(32)的表面移动至与基片接触，该基片被固定到测试卡盘(32)上，测试卡盘(32)相对传递卡盘(26)移动，以便基片从传递卡盘(26)移开，基片上端子移动与触点接触，以通过端子和触点，将电路与电测试仪电连接，信号通过电测试仪和电路间的端子和触点中继，端子与触点断开，并且基片被从测试卡盘(32)上移走。
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公开(公告)号：CN1575421A
公开(公告)日：2005-02-02
申请号：CN02820892.7
申请日：2002-10-09
申请人： 伊来克格拉斯有限公司
IPC分类号： G01R31/316 , G01R31/28 , G01R1/073
CPC分类号： G01R31/01 , G01R31/2886
摘要： 本发明提供一种测试基片上的电路的方法。一般而言，基片位于传递卡盘(26)上，测试卡盘(32)的表面移动至与基片接触，该基片被固定到测试卡盘(32)上，测试卡盘(32)相对传递卡盘(26)移动，以便基片从传递卡盘(26)移开，基片上端子移动与触点接触，以通过端子和触点，将电路与电测试仪电连接，信号通过电测试仪和电路间的端子和触点中继，端子与触点断开，并且基片被从测试卡盘(32)上移走。
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公开(公告)号：CN1575418A
公开(公告)日：2005-02-02
申请号：CN02820884.6
申请日：2002-10-09
申请人： 伊来克格拉斯有限公司
IPC分类号： G01R1/073
CPC分类号： G01R31/2893 , G01R31/2867 , G01R31/2887 , G01R31/2891
摘要： 本发明提供一种测试基片上的电路的方法。一般而言，基片位于传递卡盘(26)上，测试卡盘(32)的表面移动至与基片接触，该基片被固定到测试卡盘(32)上，测试卡盘(32)相对传递卡盘(26)移动，以便基片从传递卡盘(26)移开，基片上端子移动与触点接触，以通过端子和触点，将电路与电测试仪电连接，信号通过电测试仪和电路间的端子和触点中继，端子与触点断开，并且基片从测试卡盘(32)上移走。
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