发明授权
- 专利标题: 掺杂单晶硅硅化电熔丝及其形成方法
- 专利标题(英): Doped single crystal silicon silicided efuse and its forming method
-
申请号: CN200610106431.1申请日: 2006-07-24
-
公开(公告)号: CN100527407C公开(公告)日: 2009-08-12
- 发明人: W·R·通蒂 , R·Q·威廉姆斯 , E·J·诺瓦克 , J·H·兰金
- 申请人: 国际商业机器公司
- 申请人地址: 美国纽约
- 专利权人: 国际商业机器公司
- 当前专利权人: 国际商业机器公司
- 当前专利权人地址: 美国纽约
- 代理机构: 北京市中咨律师事务所
- 代理商 于静; 刘瑞东
- 优先权: 11/161,320 2005.07.29 US
- 主分类号: H01L23/525
- IPC分类号: H01L23/525 ; H01L21/768
摘要:
一种电熔丝起始于在第一绝缘层上具有单晶硅层的单晶绝缘体上硅(SOI)结构。将单晶硅层构图为带。在构图之前或之后,用一种或多种杂质掺杂单晶硅层。随后硅化单晶硅层的至少上部以形成硅化带。在一个实施例中,硅化整个单晶硅带以形成硅化物带。在硅化物带上形成第二绝缘体,以使硅化带与周围结构隔离。在形成第二绝缘体之前或之后,该方法形成穿过第二绝缘体到硅化带末端的电接触。通过利用单晶硅带,如二极管、导体、绝缘体、晶体管等的任何形式的半导体可以形成熔丝结构的下面部分。上面的硅化物材料允许熔丝在其未编程状态下用作导体。然而,与在编程状态下仅包括绝缘体的金属或多晶硅基电熔丝相反,当本发明的电熔丝被编程时(并且硅化物被移动或断开),下面的半导体结构以有源半导体器件工作。
公开/授权文献
- CN1905184A 掺杂单晶硅硅化电熔丝及其形成方法 公开/授权日:2007-01-31
IPC分类: