发明授权
CN100529783C 校准比较器电路
失效 - 权利终止
- 专利标题: 校准比较器电路
- 专利标题(英): Calibration comparator circuit
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申请号: CN200480025335.3申请日: 2004-09-08
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公开(公告)号: CN100529783C公开(公告)日: 2009-08-19
- 发明人: 梅村芳春 , 冈安俊幸 , 淡路利明 , 山川雅裕
- 申请人: 株式会社爱德万测试
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社爱德万测试
- 当前专利权人: 株式会社爱德万测试
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 李芳华; 邸万奎
- 优先权: 316484/2003 2003.09.09 JP
- 国际申请: PCT/JP2004/013065 2004.09.08
- 国际公布: WO2005/026759 JA 2005.03.24
- 进入国家日期: 2006-03-03
- 主分类号: G01R31/316
- IPC分类号: G01R31/316
摘要:
一种用于对装置测试的测试设备,包括:定时发生器,用于生成指明施加测试信号的定时的定时信号;多个定时延迟部件,用于延迟所述定时信号;多个驱动器,用于施加所述延迟的测试信号;采样器,用于对所述测试信号进行采样,以输出采样电压;比较器,用于输出指明所述采样电压是否高于参考电压的比较结果;确定部件,用于确定所述采样电压是否与所述参考电压一致;和定时校准部件,用于校准由所述多个定时延迟部件提供的定时信号中的延迟时间,从而使得将所述测试信号施加到该被测试装置的定时彼此一致。
公开/授权文献
- CN1846141A 校准比较器电路 公开/授权日:2006-10-11