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公开(公告)号:CN100529783C
公开(公告)日:2009-08-19
申请号:CN200480025335.3
申请日:2004-09-08
申请人: 株式会社爱德万测试
IPC分类号: G01R31/316
CPC分类号: G01R31/31932 , G01R31/3191
摘要: 一种用于对装置测试的测试设备,包括:定时发生器,用于生成指明施加测试信号的定时的定时信号;多个定时延迟部件,用于延迟所述定时信号;多个驱动器,用于施加所述延迟的测试信号;采样器,用于对所述测试信号进行采样,以输出采样电压;比较器,用于输出指明所述采样电压是否高于参考电压的比较结果;确定部件,用于确定所述采样电压是否与所述参考电压一致;和定时校准部件,用于校准由所述多个定时延迟部件提供的定时信号中的延迟时间,从而使得将所述测试信号施加到该被测试装置的定时彼此一致。
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公开(公告)号:CN1846141A
公开(公告)日:2006-10-11
申请号:CN200480025335.3
申请日:2004-09-08
申请人: 株式会社爱德万测试
IPC分类号: G01R31/316
CPC分类号: G01R31/31932 , G01R31/3191
摘要: 一种用于对装置测试的测试设备,包括:定时发生器,用于生成指明施加测试信号的定时的定时信号;多个定时延迟部件,用于延迟所述定时信号;多个驱动器,用于施加所述测试信号;采样器,用于对所述测试信号进行采样,以输出采样电压;比较器,用于输出指明所述采样电压是否高于参考电压的比较结果;确定部件,用于确定所述采样电压是否与所述参考电压一致;和定时校准部件,用于校准由所述多个定时延迟部件提供的定时信号中的延迟时间,从而使得将所述测试信号施加到该被测试装置的定时彼此一致。
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