校准比较器电路
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100529783C

    公开(公告)日:2009-08-19

    申请号:CN200480025335.3

    申请日:2004-09-08

    IPC分类号: G01R31/316

    CPC分类号: G01R31/31932 G01R31/3191

    摘要: 一种用于对装置测试的测试设备,包括:定时发生器,用于生成指明施加测试信号的定时的定时信号;多个定时延迟部件,用于延迟所述定时信号;多个驱动器,用于施加所述延迟的测试信号;采样器,用于对所述测试信号进行采样,以输出采样电压;比较器,用于输出指明所述采样电压是否高于参考电压的比较结果;确定部件,用于确定所述采样电压是否与所述参考电压一致;和定时校准部件,用于校准由所述多个定时延迟部件提供的定时信号中的延迟时间,从而使得将所述测试信号施加到该被测试装置的定时彼此一致。

    校准比较器电路
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1846141A

    公开(公告)日:2006-10-11

    申请号:CN200480025335.3

    申请日:2004-09-08

    IPC分类号: G01R31/316

    CPC分类号: G01R31/31932 G01R31/3191

    摘要: 一种用于对装置测试的测试设备,包括:定时发生器,用于生成指明施加测试信号的定时的定时信号;多个定时延迟部件,用于延迟所述定时信号;多个驱动器,用于施加所述测试信号;采样器,用于对所述测试信号进行采样,以输出采样电压;比较器,用于输出指明所述采样电压是否高于参考电压的比较结果;确定部件,用于确定所述采样电压是否与所述参考电压一致;和定时校准部件,用于校准由所述多个定时延迟部件提供的定时信号中的延迟时间,从而使得将所述测试信号施加到该被测试装置的定时彼此一致。