发明授权
CN100565344C 光刻装置、器件的制造方法及由此制得的器件
失效 - 权利终止
- 专利标题: 光刻装置、器件的制造方法及由此制得的器件
- 专利标题(英): Photoetching device, manufacturing method for the component, and component therefrom
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申请号: CN200310121698.4申请日: 2003-12-19
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公开(公告)号: CN100565344C公开(公告)日: 2009-12-02
- 发明人: L·H·J·斯特文斯 , M·H·A·里德斯 , H·梅林 , J·H·J·莫尔斯
- 申请人: ASML荷兰有限公司
- 申请人地址: 荷兰维尔德霍芬
- 专利权人: ASML荷兰有限公司
- 当前专利权人: ASML荷兰有限公司
- 当前专利权人地址: 荷兰维尔德霍芬
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 王波波
- 优先权: 02258914.7 2002.12.20 EP
- 主分类号: G03F7/20
- IPC分类号: G03F7/20 ; G03F7/00 ; H01L21/00
摘要:
本发明披露了各种新颖的清洁方法。先前的清洁方法普遍在于它们都包括将氧气注入整个系统内并将提供清洁辐射光束的单个辐射源接入到光刻装置内的每个光学元件。这会导致一些光学元件的过度曝光,而同时其它的光学元件并未被足够程度地清洁。通过提供一种系统就可以克服这一问题,该系统允许选择性地清洁一些或一组光学元件,且允许在光学元件的表面上出现空间变化的清洁。这可以通过仅仅向一个或一些光学元件供给清洁辐射光束和/或通过增加某些光学元件附近的局部氧气密度来实现。通过使用可以是动态自适应的灰色滤光片或者通过使用可控制的电子束部件就能够获得空间分解的清洁。
公开/授权文献
- CN1510518A 光刻装置、器件的制造方法及由此制得的器件 公开/授权日:2004-07-07
IPC分类: