带X射线光学光栅用于相位对比测量的焦点-检测器装置
摘要:
本发明涉及一种用于产生检查对象的投影或断层造影的相位对比照片的X射线设备的焦点-检测器装置(F1,D),其中,所采用的焦点-检测器装置(F1,D)的至少一个光栅(G)至少部分地由一种宏观均匀的介质(13)组成,该介质通过超声波激发具有周期性的结构/驻波场,该结构在X射线束透过时导致射线分束或者形成干涉图形。
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