发明公开
CN101011255A 带X射线光学光栅用于相位对比测量的焦点-检测器装置
失效 - 权利终止
- 专利标题: 带X射线光学光栅用于相位对比测量的焦点-检测器装置
- 专利标题(英): Focus-detector arrangement with X-ray optical grating for phase contrast measurement
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申请号: CN200710007962.X申请日: 2007-02-01
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公开(公告)号: CN101011255A公开(公告)日: 2007-08-08
- 发明人: 乔基姆·鲍曼 , 马丁·恩格尔哈特 , 乔尔格·弗罗伊登伯格 , 埃克哈德·亨普尔 , 马丁·霍海塞尔 , 托马斯·默特尔迈耶 , 斯蒂芬·波普斯库 , 曼弗雷德·舒斯特
- 申请人: 西门子公司
- 申请人地址: 德国慕尼黑
- 专利权人: 西门子公司
- 当前专利权人: 西门子公司
- 当前专利权人地址: 德国慕尼黑
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 邵亚丽; 李晓舒
- 优先权: 102006004604.8 2006.02.01 DE; 102006004976.4 2006.02.01 DE; 102006037282.4 2006.08.09 DE
- 主分类号: A61B6/00
- IPC分类号: A61B6/00 ; G01N23/04 ; G01N23/20 ; G01N23/06 ; H05G1/02 ; H05G1/62 ; G01T1/28 ; G01T7/00 ; G21K1/06 ; G21K1/02
摘要:
本发明涉及一种用于产生检查对象的投影或断层造影的相位对比照片的X射线设备的焦点-检测器装置(F1,D),其中,所采用的焦点-检测器装置(F1,D)的至少一个光栅(G)至少部分地由一种宏观均匀的介质(13)组成,该介质通过超声波激发具有周期性的结构/驻波场,该结构在X射线束透过时导致射线分束或者形成干涉图形。
公开/授权文献
- CN101011255B 带X射线光学光栅用于相位对比测量的焦点-检测器装置 公开/授权日:2010-10-27