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公开(公告)号:CN101011257B
公开(公告)日:2011-07-06
申请号:CN200710007968.7
申请日:2007-02-01
发明人: 乔基姆·鲍曼 , 克里斯琴·戴维 , 马丁·恩格尔哈特 , 乔尔格·弗洛伊登伯格 , 埃克哈德·亨普尔 , 马丁·霍黑塞尔 , 托马斯·默特尔迈耶 , 弗朗兹·法伊弗 , 斯蒂芬·波普斯库 , 曼弗雷德·舒斯特
IPC分类号: A61B6/00 , G01N23/04 , G01N23/20 , G01N23/06 , H05G1/02 , H05G1/62 , G01T1/28 , G01T7/00 , G21K1/06 , G21K1/02
CPC分类号: A61B6/484 , A61B6/4291 , G01N2223/419 , G01N2223/612
摘要: 本发明涉及一种用于对检查对象的观察区域(=FOV,视场)产生投影或断层造影相位对比图像的X射线设备的焦点-检测器装置(F,D),该装置具有辐射源(2),用于发射相干或准相干的X射线并透射检查对象(7,P),设置在辐射源的辐射路径中、检查对象(7,P)之后的相位光栅(G1),该相位光栅产生位于预定能量范围内的X射线的相干图案,以及分析-检测器系统(G2,D),用于位置分辨地检测由相位光栅(G1)产生的相干图案以检测相位光栅的相移,其中,按照本发明所使用的X射线的辐射路径至少在焦点(F)和检测器(D)之间的一个平面内发散。
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公开(公告)号:CN101013613B
公开(公告)日:2011-10-19
申请号:CN200710007967.2
申请日:2007-02-01
发明人: 乔基姆·鲍曼 , 克里斯琴·戴维 , 马丁·恩格尔哈特 , 乔尔格·弗罗伊登伯格 , 埃克哈德·亨普尔 , 马丁·霍海塞尔 , 托马斯·默特尔迈耶 , 弗朗兹·法伊弗 , 斯蒂芬·波普斯库 , 曼弗雷德·舒斯特
CPC分类号: A61B6/484 , A61B6/4291 , G01N2223/419 , G01N2223/612
摘要: 本发明涉及一种用于产生检查对象(7,P)的投影或断层造影的相位对比照片的X射线设备(1)的焦点-检测器装置(F,D)的X射线光学透射光栅(Gx),其具有大量的周期地布设在至少一个晶片的至少一个表面上的栅条(S)和栅空(L),其中,所述X射线光学透射光栅(Gx)由至少两个沿射线方向直接相继地布设的子光栅(Gx1,Gx2)组成。
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公开(公告)号:CN101011250B
公开(公告)日:2011-07-06
申请号:CN200710007935.2
申请日:2007-02-01
发明人: 乔基姆·鲍曼 , 克里斯琴·戴维 , 马丁·恩格尔哈特 , 乔尔格·弗罗伊登伯格 , 埃克哈德·亨普尔 , 马丁·霍黑塞尔 , 托马斯·默特尔梅尔 , 弗朗兹·法伊弗 , 斯蒂芬·波普斯库 , 曼弗雷德·舒斯特
IPC分类号: A61B6/00 , G01N23/04 , G01N23/20 , G01N23/06 , H05G1/02 , H05G1/62 , G01T1/28 , G01T7/00 , G21K1/06 , G21K1/02
CPC分类号: A61B6/484 , A61B6/4291 , G01N2223/419 , G01N2223/612
摘要: 本发明涉及一种用于产生检查对象(7,P)的相位对比照片的X射线设备的焦点-检测器装置(F1,D),其包括:-设置在检查对象第一侧的具有用于产生扇形或锥形射束(Si)的焦点(F1)的辐射源(2),-至少一个在射线途径中设置的X射线光学光栅(G0,G1,G2),其中,至少一个在检查对象(7、P)相对的第二侧在射线途径中设置的相位光栅(G1),其产生一个在X射线的优选预定能量区域内X射线的干涉图形,以及-分析检测系统(G2,D1),其至少分辨位置地针对相位移检测由相位光栅(G1)产生的干涉图形,-其中,按照本发明,至少一个X射线光学光栅(G0,G1,G2)具有在所述扇形或锥形射束(Si)的射线途径中没有形成遮挡的悬幕的栅条。
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公开(公告)号:CN101011253B
公开(公告)日:2011-06-15
申请号:CN200710007954.5
申请日:2007-02-01
发明人: 乔基姆·鲍曼 , 克里斯琴·戴维 , 马丁·恩格尔哈特 , 乔尔格·弗罗伊登伯格 , 埃克哈特·亨普尔 , 马丁·霍黑赛尔 , 托马斯·默特尔迈耶 , 弗朗兹·法伊弗 , 斯蒂芬·波普斯库 , 曼弗雷德·舒斯特
IPC分类号: A61B6/00 , G01N23/04 , G01N23/20 , G01N23/06 , H05G1/02 , H05G1/62 , G01T1/28 , G01T7/00 , G21K1/06 , G21K1/02
CPC分类号: A61B6/484 , A61B6/4291 , G01N2223/419 , G01N2223/612
摘要: 本发明涉及一种用于产生投影或断层造影的相位对比照片的X射线设备(1)的焦点-检测器装置(F,D)。按照本发明,相位光栅(G1)在其栅条(S)之间的栅空(L)内填加其在关键能量区域内的线形衰减系数比栅条高的填料(B),其中,一方面可以将填料(B)的高度(hxF,hxyF)设计成,使得用于测量相位移的能量的X射线产生一个在X射线中的相位移(),致使在经过相位光栅(G1)后穿过栅条(S)的射线(a)与穿过带有填料(B)的栅空(L)的射线b相比具有半个波长(λ/2)的相位移,以及另一方面将填料(B)的高度(hxF,hxyF)设计成,使得至少针对用于测量相位移()的能量X射线在穿过栅条(S)时和穿过填料(B)时的衰减相同。
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公开(公告)号:CN101013613A
公开(公告)日:2007-08-08
申请号:CN200710007967.2
申请日:2007-02-01
申请人: 西门子公司
发明人: 乔基姆·鲍曼 , 克里斯琴·戴维 , 马丁·恩格尔哈特 , 乔尔格·弗罗伊登伯格 , 埃克哈德·亨普尔 , 马丁·霍海塞尔 , 托马斯·默特尔迈耶 , 弗朗兹·法伊弗 , 斯蒂芬·波普斯库 , 曼弗雷德·舒斯特
CPC分类号: A61B6/484 , A61B6/4291 , G01N2223/419 , G01N2223/612
摘要: 本发明涉及一种用于产生检查对象(7,P)的投影或断层造影的相位对比照片的X射线设备(1)的焦点-检测器装置(F,D)的X射线光学透射光栅(Gx),其具有大量的周期地布设在至少一个晶片的至少一个表面上的栅条(S)和栅空(L),其中,所述X射线光学透射光栅(Gx)由至少两个沿射线方向直接相继地布设的子光栅(Gx1,Gx2)组成。
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公开(公告)号:CN101011255B
公开(公告)日:2010-10-27
申请号:CN200710007962.X
申请日:2007-02-01
申请人: 西门子公司
IPC分类号: A61B6/00 , G01N23/04 , G01N23/20 , G01N23/06 , H05G1/02 , H05G1/62 , G01T1/28 , G01T7/00 , G21K1/06 , G21K1/02
CPC分类号: A61B6/484 , A61B6/4291 , G01N2223/419 , G01N2223/612
摘要: 本发明涉及一种用于产生检查对象的投影或断层造影的相位对比照片的X射线设备的焦点-检测器装置(F1,D),其中,所采用的焦点-检测器装置(F1,D)的至少一个光栅(G)至少部分地由一种宏观均匀的介质(13)组成,该介质通过超声波激发具有周期性的结构/驻波场,该结构在X射线束透过时导致射线分束或者形成干涉图形。
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公开(公告)号:CN101011256A
公开(公告)日:2007-08-08
申请号:CN200710007964.9
申请日:2007-02-01
申请人: 西门子公司
IPC分类号: A61B6/00 , G01N23/04 , G01N23/20 , G01N23/06 , H05G1/02 , H05G1/62 , G01T1/28 , G01T7/00 , G21K1/06 , G21K1/02
CPC分类号: A61B6/484 , A61B6/4291 , G01N2223/419 , G01N2223/612
摘要: 本发明涉及一种用于无破坏地分析检查对象(5)的方法,其中通过X射线源产生具有特定能量谱的X射线(1),借助至少一个在X射线(1)的辐射路径中的X射线光栅(2)产生该X射线的至少部分位于检查对象(5)中的驻波场(4),并测量通过X射线驻波场(4)在检查对象(5)中激励的、取决于检查对象(5)和X射线驻波场(4)之间相对位置的射线(6),其中从对被X射线驻波场(4)激励的射线(6)的测量结果中推导出检查对象(5)内的物质分布(5.x)。
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公开(公告)号:CN101011255A
公开(公告)日:2007-08-08
申请号:CN200710007962.X
申请日:2007-02-01
申请人: 西门子公司
IPC分类号: A61B6/00 , G01N23/04 , G01N23/20 , G01N23/06 , H05G1/02 , H05G1/62 , G01T1/28 , G01T7/00 , G21K1/06 , G21K1/02
CPC分类号: A61B6/484 , A61B6/4291 , G01N2223/419 , G01N2223/612
摘要: 本发明涉及一种用于产生检查对象的投影或断层造影的相位对比照片的X射线设备的焦点-检测器装置(F1,D),其中,所采用的焦点-检测器装置(F1,D)的至少一个光栅(G)至少部分地由一种宏观均匀的介质(13)组成,该介质通过超声波激发具有周期性的结构/驻波场,该结构在X射线束透过时导致射线分束或者形成干涉图形。
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公开(公告)号:CN101011253A
公开(公告)日:2007-08-08
申请号:CN200710007954.5
申请日:2007-02-01
申请人: 西门子公司
发明人: 乔基姆·鲍曼 , 克里斯琴·戴维 , 马丁·恩格尔哈特 , 乔尔格·弗罗伊登伯格 , 埃克哈特·亨普尔 , 马丁·霍黑赛尔 , 托马斯·默特尔迈耶 , 弗朗兹·法伊弗 , 斯蒂芬·波普斯库 , 曼弗雷德·舒斯特
IPC分类号: A61B6/00 , G01N23/04 , G01N23/20 , G01N23/06 , H05G1/02 , H05G1/62 , G01T1/28 , G01T7/00 , G21K1/06 , G21K1/02
CPC分类号: A61B6/484 , A61B6/4291 , G01N2223/419 , G01N2223/612
摘要: 本发明涉及一种用于产生投影或断层造影的相位对比照片的X射线设备(1)的焦点-检测器装置(F,D)。按照本发明,相位光栅(G1)在其栅条(S)之间的栅空(L)内填加其在关键能量区域内的线形衰减系数比栅条高的填料(B),其中,一方面可以将填料(B)的高度(hxF,hxyF)设计成,使得用于测量相位移的能量的X射线产生一个在X射线中的相位移(φ),致使在经过相位光栅(G1)后穿过栅条(S)的射线(a)与穿过带有填料(B)的栅空(L)的射线b相比具有半个波长(λ/2)的相位移,以及另一方面将填料(B)的高度(hxF,hxyF)设计成,使得至少针对用于测量相位移(φ)的能量X射线在穿过栅条(S)时和穿过填料(B)时的衰减相同。
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公开(公告)号:CN101011257A
公开(公告)日:2007-08-08
申请号:CN200710007968.7
申请日:2007-02-01
申请人: 西门子公司
发明人: 乔基姆·鲍曼 , 克里斯琴·戴维 , 马丁·恩格尔哈特 , 乔尔格·弗洛伊登伯格 , 埃克哈德·亨普尔 , 马丁·霍黑塞尔 , 托马斯·默特尔迈耶 , 弗朗兹·法伊弗 , 斯蒂芬·波普斯库 , 曼弗雷德·舒斯特
IPC分类号: A61B6/00 , G01N23/04 , G01N23/20 , G01N23/06 , H05G1/02 , H05G1/62 , G01T1/28 , G01T7/00 , G21K1/06 , G21K1/02
CPC分类号: A61B6/484 , A61B6/4291 , G01N2223/419 , G01N2223/612
摘要: 本发明涉及一种用于对检查对象的观察区域(=FOV,视场)产生投影或断层造影相位对比图像的X射线设备的焦点-检测器装置(F,D),该装置具有辐射源(2),用于发射相干或准相干的X射线并透射检查对象(7,P),设置在辐射源的辐射路径中、检查对象(7,P)之后的相位光栅(G1),该相位光栅产生位于预定能量范围内的X射线的相干图案,以及分析-检测器系统(G2,D),用于位置分辨地检测由相位光栅(G1)产生的相干图案以检测相位光栅的相移,其中,按照本发明所使用的X射线的辐射路径至少在焦点(F)和检测器(D)之间的一个平面内发散。
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