发明公开
CN101192513A 金属-绝缘体-金属电容器及其制造方法
无效 - 驳回
- 专利标题: 金属-绝缘体-金属电容器及其制造方法
- 专利标题(英): Metal-insulator-metal capacitor and its manufacture process
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申请号: CN200610118812.1申请日: 2006-11-28
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公开(公告)号: CN101192513A公开(公告)日: 2008-06-04
- 发明人: 沈满华 , 胡友存
- 申请人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 当前专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 逯长明
- 主分类号: H01L21/02
- IPC分类号: H01L21/02 ; H01L21/82 ; H01L29/92 ; H01L27/00
摘要:
本发明公开了一种金属-绝缘体-金属电容器的制造方法,包括:在绝缘层上形成第一金属层;在所述第一金属层上形成第一电介质层;在所述第一电介质层上形成第二电介质层;在所述第二电介质层中形成沟槽;在所述沟槽中形成第二金属层;平坦化所述第二金属层和所述第二电介质层直至露出所述第二电介质层的表面。本发明还相应公开了一种金属-绝缘体-金属电容器,包括:在绝缘层上形成的下电极板;在所述下电极板上形成的电介质层;在所述电介质层上形成的上电极板;在所述上电极板的两侧具有形成于上电极板之前的金属间介电层。本发明的金属-绝缘体-金属电容器及其制造方法,能够避免冠状刻蚀缺陷的出现。
IPC分类: