发明授权
- 专利标题: 微光刻曝光系统的光学系统
- 专利标题(英): Illumination system of a microlithographic exposure system
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申请号: CN200680033920.7申请日: 2006-09-13
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公开(公告)号: CN101263432B公开(公告)日: 2011-07-27
- 发明人: M·托特泽克 , S·贝德 , W·克劳斯 , H·费尔德曼 , D·克拉默 , A·多多克
- 申请人: 卡尔蔡司SMT有限责任公司
- 申请人地址: 德国上科亨
- 专利权人: 卡尔蔡司SMT有限责任公司
- 当前专利权人: 卡尔蔡司SMT有限责任公司
- 当前专利权人地址: 德国上科亨
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 邱军
- 优先权: 60/717,576 2005.09.14 US
- 国际申请: PCT/EP2006/066332 2006.09.13
- 国际公布: WO2007/031544 EN 2007.03.22
- 进入国家日期: 2008-03-14
- 主分类号: G03F7/20
- IPC分类号: G03F7/20
摘要:
根据本发明的一个方面,一种光学系统,特别是微光刻曝光系统的照明系统或投影透镜,具有光学系统轴(0A)和由三个双折射元件(211,212,213)构成的至少一个元件组(200),每个双折射元件由光学单轴材料制成并具有非球面,其中所述组的第一双折射元件(211)具有其光学晶轴的第一取向;所述组的第二双折射元件(212)具有其光学晶轴的第二取向,其中所述第二取向能够被描述为由所述第一取向的旋转形成,所述旋转不对应于绕光学系统轴旋转90°或其整数倍的角的旋转;所述组的第三双折射元件(213)具有其光学晶轴的第三取向,其中所述第三取向能够被描述为由所述第二取向的旋转形成,所述旋转不对应于绕光学系统轴旋转90°或其整数倍的角的旋转。
公开/授权文献
- CN101263432A 微光刻曝光系统的光学系统 公开/授权日:2008-09-10
IPC分类: