发明公开
CN101271890A 半导体器件及其制造方法与电容器结构及其制造方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 半导体器件及其制造方法与电容器结构及其制造方法
- 专利标题(英): Semiconductor device, method of manufacturing the same
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申请号: CN200810091832.3申请日: 2005-11-18
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公开(公告)号: CN101271890A公开(公告)日: 2008-09-24
- 发明人: 栗原和明 , 盐贺健司 , 约翰·D·巴尼基
- 申请人: 富士通株式会社
- 申请人地址: 日本神奈川县川崎市
- 专利权人: 富士通株式会社
- 当前专利权人: 富士通株式会社
- 当前专利权人地址: 日本神奈川县川崎市
- 代理机构: 隆天国际知识产权代理有限公司
- 代理商 张龙哺; 冯志云
- 优先权: 2005-036514 2005.02.14 JP; 2005-237777 2005.08.18 JP
- 分案原申请号: 2005101250880
- 主分类号: H01L27/00
- IPC分类号: H01L27/00 ; H01L27/04 ; H01L23/482 ; H01L21/82 ; H01L21/822 ; H01L21/60
摘要:
本发明公开一种半导体器件及其制造方法与电容器结构及其制造方法。该半导体器件包括转接板和半导体芯片。转接板包括:Si衬底;多个通路,通过绝缘材料在穿过Si衬底的相应通孔中设置;薄膜电容器,设置于Si衬底的第一主表面上,以使其电连接至通路;以及多个外部连接端子,设置于Si衬底的第二主表面上,以使其电连接至通路。第二主表面背对第一主表面。半导体芯片设置于第一主表面或第二主表面上,以使其电连接至通路。其中Si衬底的厚度小于通孔的直径。由此,可提供可高频运行及可低成本制造的半导体器件。
公开/授权文献
- CN101271890B 半导体器件及其制造方法与电容器结构及其制造方法 公开/授权日:2010-06-02
IPC分类: