发明公开
CN101377538A 一种微处理器老化试验系统及试验方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种微处理器老化试验系统及试验方法
- 专利标题(英): Microprocessor aging test system and test method
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申请号: CN200810222834.1申请日: 2008-09-19
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公开(公告)号: CN101377538A公开(公告)日: 2009-03-04
- 发明人: 祝长民 , 兰利东 , 颜洁 , 于立新
- 申请人: 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天时代电子公司第七七二研究所
- 申请人地址: 北京市丰台区东高地四营门北路2号
- 专利权人: 北京时代民芯科技有限公司,中国航天时代电子公司第七七二研究所
- 当前专利权人: 北京时代民芯科技有限公司,中国航天时代电子公司第七七二研究所
- 当前专利权人地址: 北京市丰台区东高地四营门北路2号
- 代理机构: 中国航天科技专利中心
- 代理商 安丽
- 主分类号: G01R31/317
- IPC分类号: G01R31/317 ; G06F11/28
摘要:
一种微处理器老化试验系统及试验方法,包括微处理器板、晶振输入及工作状态指示板、供电系统和外置程序引导板,老化试验系统接好后,将待老化的微处理器安装在微处理器板上进行初始化,将运行外置程序引导板中的老化程序命中到其中待老化微处理器的CACHE中运行,运行过程中通过晶振输入及工作状态指示板监视待老化微处理器的工作状态,当所有待老化微处理器运行老化程序均正常后,将微处理器板放入老化箱中进行老化试验。本发明利用微处理器中的CACHE,将外部存储器中的老化程序通过外置程序引导板引导至CACHE中,使微处理器不再访问外部存储器,解决了微处理器器件老化试验不能跑程序的问题,全面提高了动态老化的覆盖率。
公开/授权文献
- CN101377538B 一种微处理器老化试验系统及试验方法 公开/授权日:2011-02-16