一种微处理器老化试验系统及试验方法
摘要:
一种微处理器老化试验系统及试验方法,包括微处理器板、晶振输入及工作状态指示板、供电系统和外置程序引导板,老化试验系统接好后,将待老化的微处理器安装在微处理器板上进行初始化,将运行外置程序引导板中的老化程序命中到其中待老化微处理器的CACHE中运行,运行过程中通过晶振输入及工作状态指示板监视待老化微处理器的工作状态,当所有待老化微处理器运行老化程序均正常后,将微处理器板放入老化箱中进行老化试验。本发明利用微处理器中的CACHE,将外部存储器中的老化程序通过外置程序引导板引导至CACHE中,使微处理器不再访问外部存储器,解决了微处理器器件老化试验不能跑程序的问题,全面提高了动态老化的覆盖率。
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