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公开(公告)号：CN101499105B
公开(公告)日：2010-08-25
申请号：CN200910079415.1
申请日：2009-03-11
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天时代电子公司第七七二研究所
IPC分类号： G06F17/50
摘要： 一种微处理器功能验证测试用例的自动生成方法，本发明采用功能树结构的方法描述测试用例，该功能树结构结构层次比较清晰，各种指令和参数之间的关系也比较清楚，易于采用编程语言进行描述；本发明利用Perl语言自动把功能树结构映射为SystemVerilog语言描述的测试用例，只需根据功能树结构输入相应的指令便可以自动产生测试用例，从而减少了将功能树结构转化为测试用例所花的时间，提高了验证效率，确保产品能够在较短的时间里不带功能缺陷上市；另外，由于本方法可以在现有功能树结构的基础上根据不同产品增加或减少指令或参数，能够适用不同产品的测试用例的自动生成，从而提高了测试用例的可重用性。
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公开(公告)号：CN101281481B
公开(公告)日：2010-06-16
申请号：CN200810112421.8
申请日：2008-05-23
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天时代电子公司第七七二研究所
IPC分类号： G06F11/10
摘要： 一种存储器抗单粒子翻转的纠错检错方法，步骤为：(1)从CPU接收K位信息数据；(2)生成与K位信息数据对应的N位校验数据A；(3)将K位信息数据和N位校验数据A存入存储器；(4)从存储器中读出所述K位信息数据，并采用步骤(2)方法重新生成与K位信息数据对应的N位校验数据B；(5)将校验数据A和校验数据B进行异或运算，得到校正子；(6)通过校正子定位信息数据和校验数据A中的错误，若产生一位或两位数据错误，则纠正数据错误并输出正确的数据；若产生三位或可检测的三位以上的数据错误，则提示产生不可纠正错误。该方法纠错能力强、操作简单，可对单粒子效应引起的存储器一位或两位错误进行有效纠检。
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公开(公告)号：CN101499105A
公开(公告)日：2009-08-05
申请号：CN200910079415.1
申请日：2009-03-11
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天时代电子公司第七七二研究所
IPC分类号： G06F17/50
摘要： 一种微处理器功能验证测试用例的功能树结构及自动生成方法，本发明采用功能树结构的方法描述测试用例，该功能树结构结构层次比较清晰，各种指令和参数之间的关系也比较清楚，易于采用编程语言进行描述；本发明利用Perl语言自动把功能树结构映射为SystemVerilog语言描述的测试用例，只需根据功能树结构输入相应的指令便可以自动产生测试用例，从而减少了将功能树结构转化为测试用例所花的时间，提高了验证效率，确保产品能够在较短的时间里不带功能缺陷上市；另外，由于本方法可以在现有功能树结构的基础上根据不同产品增加或减少指令或参数，能够适用不同产品的测试用例的自动生成，从而提高了测试用例的可重用性。
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公开(公告)号：CN100489795C
公开(公告)日：2009-05-20
申请号：CN200710176529.9
申请日：2007-10-30
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天时代电子公司第七七二研究所
IPC分类号： G06F11/00 , G01R31/00 , G01R31/317
摘要： 本发明涉及一种SPARC处理器单粒子效应检测装置与检测方法，检测装置包括测试电路板、高速数据采集控制单元、主控计算机、双路电源供电系统，测试电路板，主控计算机通过双线程控制可以实现单粒子闩锁与其他单粒子效应的同时监测，测试电路板上可柔性配置被测处理器和监控处理器进行自测或双处理器辅助测试，该装置的硬件结构能够满足对SPARC处理器各种单粒子效应现象的测试，该检测方法实现了对各种单粒子效应的区别性测试，解决在地面模拟辐射环境中测量SPARC处理器单粒子效应的问题。
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公开(公告)号：CN101377538B
公开(公告)日：2011-02-16
申请号：CN200810222834.1
申请日：2008-09-19
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天时代电子公司第七七二研究所
IPC分类号： G01R31/317 , G06F11/28
摘要： 一种微处理器老化试验系统及试验方法，包括微处理器板、晶振输入及工作状态指示板、供电系统和外置程序引导板，老化试验系统接好后，将待老化的微处理器安装在微处理器板上进行初始化，将运行外置程序引导板中的老化程序命中到其中待老化微处理器的CACHE中运行，运行过程中通过晶振输入及工作状态指示板监视待老化微处理器的工作状态，当所有待老化微处理器运行老化程序均正常后，将微处理器板放入老化箱中进行老化试验。本发明利用微处理器中的CACHE，将外部存储器中的老化程序通过外置程序引导板引导至CACHE中，使微处理器不再访问外部存储器，解决了微处理器器件老化试验不能跑程序的问题，全面提高了动态老化的覆盖率。
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公开(公告)号：CN101551764A
公开(公告)日：2009-10-07
申请号：CN200910078908.3
申请日：2009-02-27
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天时代电子公司第七七二研究所
摘要： 基于同步冗余线程与编码技术的抗单粒子效应系统及方法，通过对纠检错编码的研究和改进，使得该编码技术能够快速检测出寄存器堆中发生的单粒子翻转，同时将处理器同步双线程机制设计为冗余双线程机制，当检测到某线程的寄存器堆发生单粒子翻转时，将通过替换为另一个冗余线程的寄存器堆对应存储单元的数据，纠正发生翻转错误的寄存器数据；通过冗余双线程指令级同步执行结果比较机制，判断出流水线电路是否发生单粒子瞬变错误。当发生该错误时通过设计的冗余线程流水线重启机制，快速消除流水线单粒子瞬变错误。本方法较好的解决了处理器中寄存器堆多位单粒子翻转和流水线单粒子瞬变两种常发生而又难解决的问题。
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公开(公告)号：CN101377538A
公开(公告)日：2009-03-04
申请号：CN200810222834.1
申请日：2008-09-19
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天时代电子公司第七七二研究所
IPC分类号： G01R31/317 , G06F11/28
摘要： 一种微处理器老化试验系统及试验方法，包括微处理器板、晶振输入及工作状态指示板、供电系统和外置程序引导板，老化试验系统接好后，将待老化的微处理器安装在微处理器板上进行初始化，将运行外置程序引导板中的老化程序命中到其中待老化微处理器的CACHE中运行，运行过程中通过晶振输入及工作状态指示板监视待老化微处理器的工作状态，当所有待老化微处理器运行老化程序均正常后，将微处理器板放入老化箱中进行老化试验。本发明利用微处理器中的CACHE，将外部存储器中的老化程序通过外置程序引导板引导至CACHE中，使微处理器不再访问外部存储器，解决了微处理器器件老化试验不能跑程序的问题，全面提高了动态老化的覆盖率。
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公开(公告)号：CN100559349C
公开(公告)日：2009-11-11
申请号：CN200810114876.3
申请日：2008-06-13
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天时代电子公司第七七二研究所
IPC分类号： G06F11/00 , G01R31/00 , G01R31/317
摘要： 空间处理器单粒子试验自动化测试系统及方法，包括主控处理器、被测处理器、监控主机，主控处理器与被测处理器之间通过PCI总线进行通信；主控处理器中配置可配置多场景测试模块、数据分析模块、自适应负反馈感应模块；处理显示模块配置在监控主机中；该系统及方法可以实现每轮次的试验针对多个测试向量进行，并且可以根据测试结果自动调节测试向量，确定最有效的测试向量，可靠性高。
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公开(公告)号：CN101551764B
公开(公告)日：2010-11-10
申请号：CN200910078908.3
申请日：2009-02-27
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天时代电子公司第七七二研究所
摘要： 基于同步冗余线程与编码技术的抗单粒子效应系统及方法，通过对纠检错编码的研究和改进，使得该编码技术能够快速检测出寄存器堆中发生的单粒子翻转，同时将处理器同步双线程机制设计为冗余双线程机制，当检测到某线程的寄存器堆发生单粒子翻转时，将通过替换为另一个冗余线程的寄存器堆对应存储单元的数据，纠正发生翻转错误的寄存器数据；通过冗余双线程指令级同步执行结果比较机制，判断出流水线电路是否发生单粒子瞬变错误。当发生该错误时通过设计的冗余线程流水线重启机制，快速消除流水线单粒子瞬变错误。本方法较好的解决了处理器中寄存器堆多位单粒子翻转和流水线单粒子瞬变两种常发生而又难解决的问题。
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公开(公告)号：CN101286126A
公开(公告)日：2008-10-15
申请号：CN200810114876.3
申请日：2008-06-13
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天时代电子公司第七七二研究所
IPC分类号： G06F11/00 , G01R31/00 , G01R31/317
摘要： 空间处理器单粒子试验自动化测试系统及方法，包括主控处理器、被测处理器、监控主机，主控处理器与被测处理器之间通过PCI总线进行通信；主控处理器中配置可配置多场景测试模块、数据分析模块、自适应负反馈感应模块；处理显示模块配置在监控主机中；该系统及方法可以实现每轮次的试验针对多个测试向量进行，并且可以根据测试结果自动调节测试向量，确定最有效的测试向量，可靠性高。
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