一种微处理器老化试验系统及试验方法

    公开(公告)号:CN101377538B

    公开(公告)日:2011-02-16

    申请号:CN200810222834.1

    申请日:2008-09-19

    IPC分类号: G01R31/317 G06F11/28

    摘要: 一种微处理器老化试验系统及试验方法,包括微处理器板、晶振输入及工作状态指示板、供电系统和外置程序引导板,老化试验系统接好后,将待老化的微处理器安装在微处理器板上进行初始化,将运行外置程序引导板中的老化程序命中到其中待老化微处理器的CACHE中运行,运行过程中通过晶振输入及工作状态指示板监视待老化微处理器的工作状态,当所有待老化微处理器运行老化程序均正常后,将微处理器板放入老化箱中进行老化试验。本发明利用微处理器中的CACHE,将外部存储器中的老化程序通过外置程序引导板引导至CACHE中,使微处理器不再访问外部存储器,解决了微处理器器件老化试验不能跑程序的问题,全面提高了动态老化的覆盖率。

    一种微处理器老化试验系统及试验方法

    公开(公告)号:CN101377538A

    公开(公告)日:2009-03-04

    申请号:CN200810222834.1

    申请日:2008-09-19

    IPC分类号: G01R31/317 G06F11/28

    摘要: 一种微处理器老化试验系统及试验方法,包括微处理器板、晶振输入及工作状态指示板、供电系统和外置程序引导板,老化试验系统接好后,将待老化的微处理器安装在微处理器板上进行初始化,将运行外置程序引导板中的老化程序命中到其中待老化微处理器的CACHE中运行,运行过程中通过晶振输入及工作状态指示板监视待老化微处理器的工作状态,当所有待老化微处理器运行老化程序均正常后,将微处理器板放入老化箱中进行老化试验。本发明利用微处理器中的CACHE,将外部存储器中的老化程序通过外置程序引导板引导至CACHE中,使微处理器不再访问外部存储器,解决了微处理器器件老化试验不能跑程序的问题,全面提高了动态老化的覆盖率。

    一种时间确定的多路高速总线通道及共享接口

    公开(公告)号:CN109656851A

    公开(公告)日:2019-04-19

    申请号:CN201811347595.2

    申请日:2018-11-13

    IPC分类号: G06F13/38 G06F13/16

    摘要: 本发明公开了一种时间确定的多路高速总线通道及共享接口,包括多个高速总线通道模块、通道控制模块、仲裁模块、主状态机模块和共享接口。各个高速总线通道均通过唯一的共享接口与外部交互,仲裁模块依据公平仲裁算法和时间片定时策略选择高速总线通道,实现多通道、多类型总线与共享接口之间的数据传输。本发明避免了每个通道对应一个接口的数据传输冲突问题,实现了多通道数据的高效传输,提高了高速总线通道的利用率,降低了系统应用的复杂度。同时采取公平仲裁机制和时间片定时策略,提高了数据传输效率和时间确定性。