• 专利标题: 用于检查基板的表面的测量装置和测量方法
  • 专利标题(英): Measuring device and measuring method for inspecting the surface of a substrate
  • 申请号: CN200780015618.3
    申请日: 2007-11-06
  • 公开(公告)号: CN101432628B
    公开(公告)日: 2012-10-03
  • 发明人: H·克劳斯曼K·克拉格勒M·纽瑟
  • 申请人: 西门子公司
  • 申请人地址: 德国慕尼黑
  • 专利权人: 西门子公司
  • 当前专利权人: 西门子公司
  • 当前专利权人地址: 德国慕尼黑
  • 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
  • 代理商 曹若; 梁冰
  • 优先权: 102006054088.3 2006.11.16 DE
  • 国际申请: PCT/EP2007/061936 2007.11.06
  • 国际公布: WO2008/058869 DE 2008.07.24
  • 进入国家日期: 2008-10-30
  • 主分类号: G01R1/07
  • IPC分类号: G01R1/07 G01R31/302 G09G3/00
用于检查基板的表面的测量装置和测量方法
摘要:
提出一种用于检查基板(140)的表面(141)的测量装置(100)。测量装置(100)具有保持元件(110)和空气支承的元件(120,220),该空气支承的元件安装在保持元件(110)上,并且这样构造,使得它可以与要检查的基板(140)的表面(141)一起构成空气支承,并且所述空气支承的元件具有弹性,从而空气支承的元件(120,220)可以匹配表面(141)的不平度。测量装置(110)此外具有至少一个传感器(130,230),其安装在空气支承的元件(120,220)上,并且设置用于检测基板(140)的表面(141)。由于空气支承的元件(120,220)的弹性,所述至少一个传感器(130,230)即使在要检测的表面(141)具有波浪度的情况下也能够以到表面(141)的预定的测量距离运动。此外描述了一种用于表面检查的测量方法,其中所述的测量装置(100)相对表面(141)移动。
公开/授权文献
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