各向异性导电片以及导电粉末

    公开(公告)号:CN106158079B

    公开(公告)日:2017-11-28

    申请号:CN201610319930.2

    申请日:2016-05-13

    申请人: 株式会社ISC

    发明人: 郑永倍

    IPC分类号: H01B5/16 G01R1/07

    摘要: 本发明提供一种各向异性导电片以及导电粉末。各向异性导电片包括:导电路径形成部,配置于与检测目标元件的端子相应的位置上且在各向异性导电片的厚度方向上具有导电性,导电路径形成部通过在各向异性导电片的厚度方向上于弹性绝缘材料中配置导电粉末的粒子而形成;以及绝缘部,支撑导电路径形成部且使导电路径形成部绝缘。导电粉末的粒子的每一者具有3D网格结构且包括连接导电粉末的粒子的内部区域与外部区域的孔洞,并且弹性绝缘材料填入孔洞中且连接导电粉末的粒子的外部区域而如同一体。本申请技术方案中,导电粉末可不自导电路径形成部中分离,因此可延长各向异性导电片的寿命。

    电路板的检查装置
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102129003B

    公开(公告)日:2014-01-22

    申请号:CN201010592068.5

    申请日:2010-12-13

    IPC分类号: G01R31/02 G01R1/067 G01R1/07

    摘要: 本发明涉及电路板检查装置,通过接触式探头向印刷在电路板的节点电极、接通交流电源后,通过电容式非接触传感器检测电压值的同时感知差分电压值或相位差,节点电极发生短路或断线时,即使电流流过断线部位,也能通过一次扫描、准确地检测。

    近场电磁探针
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102981028A

    公开(公告)日:2013-03-20

    申请号:CN201210469875.7

    申请日:2012-11-19

    IPC分类号: G01R1/06 G01R1/07

    摘要: 本发明提供一种近场电磁探针,包含有电感性元件组,电感性元件组更包含环形结构体,于中央位置上形成中空环孔,线圈具有第一端点及第二端点,线圈穿越中空环孔,以缠绕于环形结构体上,再以同轴电缆电性连接线圈,以构成电性回路。本发明的技术思想乃是在于利用电感性元件组上的环形结构体的设计,用以提高侦测敏感度,并提高电磁场接收的效果,并且可进行模拟出电磁干扰法规所规范3米测试距离的噪声源测试频率,且依据本发明的近场电磁探针,可不用限制于3米的测试距离,以提供检测者即使在空间有限的环境中,亦能有非常便利的检测方式。

    用于检查基板的表面的测量装置和测量方法

    公开(公告)号:CN101432628A

    公开(公告)日:2009-05-13

    申请号:CN200780015618.3

    申请日:2007-11-06

    申请人: 西门子公司

    IPC分类号: G01R1/07 G01R31/302 G09G3/00

    摘要: 提出一种用于检查基板(140)的表面(141)的测量装置(100)。测量装置(100)具有保持元件(110)和空气支承的元件(120,220),该空气支承的元件安装在保持元件(110)上,并且这样构造,使得它可以与要检查的基板(140)的表面(141)一起构成空气支承,并且所述空气支承的元件具有弹性,从而空气支承的元件(120,220)可以匹配表面(141)的不平度。测量装置(110)此外具有至少一个传感器(130,230),其安装在空气支承的元件(120,220)上,并且设置用于检测基板(140)的表面(141)。由于空气支承的元件(120,220)的弹性,所述至少一个传感器(130,230)即使在要检测的表面(141)具有波浪度的情况下也能够以到表面(141)的预定的测量距离运动。此外描述了一种用于表面检查的测量方法,其中所述的测量装置(100)相对表面(141)移动。

    导电性触头
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1372643A

    公开(公告)日:2002-10-02

    申请号:CN00807899.8

    申请日:2000-05-26

    CPC分类号: G01R1/07314 G01R1/06722

    摘要: 一种导电性触头,在不必极端缩小引线直径的前提下即能适应细密的间距。在中部构件3(由三层叠积的)上开设贯穿孔3a,孔内设有可沿轴向自由活动的压缩螺旋弹簧5及其两端联结的针式探头6、7的各壳体6a、7a。在上部构件4的上面还叠积着配线板8,其上开有夹持孔8a。夹持孔8a内容纳着引线9端部加工成椭圆形构成的扁平部9a,通过配线板上开设的引线引出孔8b来防止扁平部9a脱落。将信号传送线的一端简单加工成扁平部,除可防止其脱落外,还可省去管状接线柱,从而不必使用直径过细的信号传送线,防止了导线电阻的增大,并实现了对细密化间距的适用性。

    一种电磁场近场测量装置和制作电磁探针的方法

    公开(公告)号:CN109709361A

    公开(公告)日:2019-05-03

    申请号:CN201910135641.0

    申请日:2019-02-25

    申请人: 浙江大学

    发明人: 杨青 林飞宏

    IPC分类号: G01R1/07 G01R29/08

    摘要: 本发明公开了一种电磁场近场测量装置和制作电磁探针的方法,属于电磁近场测量领域。包括激光发生器、电磁探针、第一光电探测器和三端口环形器,电磁探针包括沿激光的光路依次设置的光纤准直透镜、集成偏振片和八分之一波片的微纳光纤、处于外加电磁场范围内的非线性纳米线和一反光元件;激光束进入电磁探针后在非线性纳米线的电光效应作用下携带被测电磁场参数信息,并在反光元件的反射作用下沿原路返回。激光通过非线性纳米线的电光效应将待测电磁场参数的信息耦合到激光中。激光首次经过非线性纳米线后经过光纤光栅结构的反射再次通过非线性纳米线,并反射回微纳光纤中,再通过光电探测器对激光进行测量,实现对待测电磁场的测量。

    具有照度调整机制的多单元测试探针卡及其照度调整方法

    公开(公告)号:CN105988025A

    公开(公告)日:2016-10-05

    申请号:CN201610145758.3

    申请日:2016-03-15

    IPC分类号: G01R1/067 G01R1/07 G01R1/073

    摘要: 本发明涉及一种多单元测试探针卡及其照度调整方法,所述探针卡用于同时测试多个光电元件,且包含一电路板、多个遮光片及多个探针。所述电路板具有供测试光线通过的多个透光孔,各透光孔的位置能分别与各光电元件对应。各遮光片能更换地分别设置于所述测试光线通过各所述透光孔的光学路径上,且各所述遮光片具有一基底及一设于基底的图案,所述基底的透光率高于图案的透光率,至少二所述遮光片的透光率相异。各所述探针分别电性连接所述电路板,用于点触各所述光学元件。由此,本发明的探针卡可利用成本较低、较容易且快速达到的方式调整受测物的光照程度。

    用于检查基板的表面的测量装置和测量方法

    公开(公告)号:CN101432628B

    公开(公告)日:2012-10-03

    申请号:CN200780015618.3

    申请日:2007-11-06

    申请人: 西门子公司

    IPC分类号: G01R1/07 G01R31/302 G09G3/00

    摘要: 提出一种用于检查基板(140)的表面(141)的测量装置(100)。测量装置(100)具有保持元件(110)和空气支承的元件(120,220),该空气支承的元件安装在保持元件(110)上,并且这样构造,使得它可以与要检查的基板(140)的表面(141)一起构成空气支承,并且所述空气支承的元件具有弹性,从而空气支承的元件(120,220)可以匹配表面(141)的不平度。测量装置(110)此外具有至少一个传感器(130,230),其安装在空气支承的元件(120,220)上,并且设置用于检测基板(140)的表面(141)。由于空气支承的元件(120,220)的弹性,所述至少一个传感器(130,230)即使在要检测的表面(141)具有波浪度的情况下也能够以到表面(141)的预定的测量距离运动。此外描述了一种用于表面检查的测量方法,其中所述的测量装置(100)相对表面(141)移动。