发明授权
- 专利标题: 制造复合材料晶片的方法
- 专利标题(英): Method for manufacturing compound material wafers
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申请号: CN200880001114.0申请日: 2008-01-16
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公开(公告)号: CN101558487B公开(公告)日: 2012-05-30
- 发明人: 帕特里克·雷诺 , 奥列格·科农丘克 , 米夏埃尔·司廷科
- 申请人: 硅绝缘体技术有限公司
- 申请人地址: 法国伯涅尼
- 专利权人: 硅绝缘体技术有限公司
- 当前专利权人: 索泰克公司
- 当前专利权人地址: 法国伯涅尼
- 代理机构: 北京三友知识产权代理有限公司
- 代理商 黄纶伟
- 优先权: 07290094.7 2007.01.24 EP
- 国际申请: PCT/IB2008/000131 2008.01.16
- 国际公布: WO2008/090439 EN 2008.07.31
- 进入国家日期: 2009-05-14
- 主分类号: H01L21/762
- IPC分类号: H01L21/762 ; H01L21/316
摘要:
本发明涉及一种制造复合材料晶片的方法,具体地说是制造绝缘体上硅型的晶片的方法,所述方法包括以下步骤:提供初始施主衬底,在所述初始施主衬底上形成绝缘层,在所述初始施主衬底中形成预定分裂区,将所述初始施主衬底粘接到操作衬底上,以及在所述预定分裂区剥离所述施主衬底,由此将所述初始施主衬底的一层转移到所述操作衬底上,以形成复合材料晶片。为了能够更多次再使用施主衬底,本发明提出在低于950℃,具体地说是低于900℃,优选是在850℃或更低的温度下执行热处理步骤以形成绝缘层。
公开/授权文献
- CN101558487A 制造复合材料晶片的方法及相应的复合材料晶片 公开/授权日:2009-10-14
IPC分类: