发明授权
- 专利标题: 数字模拟混合信号芯片测试卡
- 专利标题(英): Digital and analog mixed signal chip test card
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申请号: CN200910069643.0申请日: 2009-07-08
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公开(公告)号: CN101592706B公开(公告)日: 2011-05-18
- 发明人: 刘华 , 赵春莲 , 姚琳 , 张超 , 华锡培
- 申请人: 天津渤海易安泰电子半导体测试有限公司
- 申请人地址: 天津市华苑产业园区海泰绿色产业基地M8座3门3层
- 专利权人: 天津渤海易安泰电子半导体测试有限公司
- 当前专利权人: 天津津能易安泰科技有限公司
- 当前专利权人地址: 天津市华苑产业园区海泰绿色产业基地M8座3门3层
- 代理机构: 天津盛理知识产权代理有限公司
- 代理商 王来佳
- 主分类号: G01R31/28
- IPC分类号: G01R31/28 ; G01R31/3167
摘要:
本发明涉及一种数字模拟混合信号芯片测试卡,测试卡上的芯片测试电路包括接口模块、配置芯片、FPGA处理模块及模数转换模块,接口模块通过总线与FPGA处理模块相连接,与配置芯片相连接的FPGA处理模块分别通过控制端与模数转换模块、被测芯片载板相连接,通过数字信号输出端与被测芯片载板相连接,该被测芯片载板的模拟信号输出端与模数转换模块的输入端相连接,被测芯片载板的数据时钟信号及状态信号分别与FPGA处理模块相连接,该模数转换模块的控制端与被测芯片载板相连接,模数转换模块的输出端与FPGA处理模块的数字信号输入端相连接。本发明设计合理,具有性能稳定、测试速度快、效率高、使用灵活方便等特点,实现对数字模拟混合信号芯片的测试功能。
公开/授权文献
- CN101592706A 数字模拟混合信号芯片测试卡 公开/授权日:2009-12-02