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公开(公告)号：CN101592706A
公开(公告)日：2009-12-02
申请号：CN200910069643.0
申请日：2009-07-08
申请人： 天津渤海易安泰电子半导体测试有限公司
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/3167
摘要： 本发明涉及一种数字模拟混合信号芯片测试卡，测试卡上的芯片测试电路包括接口模块、配置芯片、FPGA处理模块及模数转换模块，接口模块通过总线与FPGA处理模块相连接，与配置芯片相连接的FPGA处理模块分别通过控制端与模数转换模块、被测芯片载板相连接，通过数字信号输出端与被测芯片载板相连接，该被测芯片载板的模拟信号输出端与模数转换模块的输入端相连接，被测芯片载板的数据时钟信号及状态信号分别与FPGA处理模块相连接，该模数转换模块的控制端与被测芯片载板相连接，模数转换模块的输出端与FPGA处理模块的数字信号输入端相连接。本发明设计合理，具有性能稳定、测试速度快、效率高、使用灵活方便等特点，实现对数字模拟混合信号芯片的测试功能。
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公开(公告)号：CN101592707A
公开(公告)日：2009-12-02
申请号：CN200910069644.5
申请日：2009-07-08
申请人： 天津渤海易安泰电子半导体测试有限公司
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/3167
摘要： 本发明涉及一种模拟数字混合信号芯片测试卡，该测试卡上的芯片测试电路包括系统接口模块、配置芯片、FPGA处理模块及数模转换模块，系统接口模块通过总线与FPGA处理模块相连接，与配置芯片相连接的FPGA处理模块通过数字信号输出端与数模转换模块的输入端相连接，通过控制端与被测芯片载板相连接，数模转换模块的输出端与被测芯片载板的模拟信号输入端相连接，被测芯片载板的数字信号输出端与FPGA处理模块的数字信号输入端相连接。本发明设计合理，具有性能稳定、测试速度快、效率高、使用灵活方便等特点，满足了对模拟数字混合信号芯片的测试需要，同时，本芯片测试卡还可以与其他类型测试卡或功能板卡配合使用，实现了对不同类型芯片的测试需要。
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公开(公告)号：CN101587167A
公开(公告)日：2009-11-25
申请号：CN200910069645.X
申请日：2009-07-08
申请人： 天津渤海易安泰电子半导体测试有限公司
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/3167
摘要： 本发明涉及一种多功能集成电路芯片测试机，包括机壳及其内部的测试机主板、交流信号卡组和直流信号卡组，交流信号卡组和直流信号卡组相互连接并分别安装在测试机主板上，该测试机主板分别与PC控制机、被测芯片载板相连接，其主要技术特点是：在测试机主板上还安装有数模芯片测试卡和模数芯片测试卡。本发明设计合理，实现了对不同类型集成电路芯片的测试功能，降低了集成电路生产厂家的设备投入，并节约了设备的运行维护成本，具有测试范围广、性能稳定、测试速度快、效率高、使用灵活方便等特点。
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公开(公告)号：CN101587167B
公开(公告)日：2012-02-29
申请号：CN200910069645.X
申请日：2009-07-08
申请人： 天津渤海易安泰电子半导体测试有限公司
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/3167
摘要： 本发明涉及一种多功能集成电路芯片测试机，包括机壳及其内部的测试机主板、交流信号卡组和直流信号卡组，交流信号卡组和直流信号卡组相互连接并分别安装在测试机主板上，该测试机主板分别与PC控制机、被测芯片载板相连接，其主要技术特点是：在测试机主板上还安装有数模芯片测试卡和模数芯片测试卡。本发明设计合理，实现了对不同类型集成电路芯片的测试功能，降低了集成电路生产厂家的设备投入，并节约了设备的运行维护成本，具有测试范围广、性能稳定、测试速度快、效率高、使用灵活方便等特点。
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公开(公告)号：CN101592707B
公开(公告)日：2011-11-23
申请号：CN200910069644.5
申请日：2009-07-08
申请人： 天津渤海易安泰电子半导体测试有限公司
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/3167
摘要： 本发明涉及一种模拟数字混合信号芯片测试卡，该测试卡上的芯片测试电路包括系统接口模块、配置芯片、FPGA处理模块及数模转换模块，系统接口模块通过总线与FPGA处理模块相连接，与配置芯片相连接的FPGA处理模块通过数字信号输出端与数模转换模块的输入端相连接，通过控制端与被测芯片载板相连接，数模转换模块的输出端与被测芯片载板的模拟信号输入端相连接，被测芯片载板的数字信号输出端与FPGA处理模块的数字信号输入端相连接。本发明设计合理，具有性能稳定、测试速度快、效率高、使用灵活方便等特点，满足了对模拟数字混合信号芯片的测试需要，同时，本芯片测试卡还可以与其他类型测试卡或功能板卡配合使用，实现了对不同类型芯片的测试需要。
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公开(公告)号：CN101592706B
公开(公告)日：2011-05-18
申请号：CN200910069643.0
申请日：2009-07-08
申请人： 天津渤海易安泰电子半导体测试有限公司
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/3167
摘要： 本发明涉及一种数字模拟混合信号芯片测试卡，测试卡上的芯片测试电路包括接口模块、配置芯片、FPGA处理模块及模数转换模块，接口模块通过总线与FPGA处理模块相连接，与配置芯片相连接的FPGA处理模块分别通过控制端与模数转换模块、被测芯片载板相连接，通过数字信号输出端与被测芯片载板相连接，该被测芯片载板的模拟信号输出端与模数转换模块的输入端相连接，被测芯片载板的数据时钟信号及状态信号分别与FPGA处理模块相连接，该模数转换模块的控制端与被测芯片载板相连接，模数转换模块的输出端与FPGA处理模块的数字信号输入端相连接。本发明设计合理，具有性能稳定、测试速度快、效率高、使用灵活方便等特点，实现对数字模拟混合信号芯片的测试功能。
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公开(公告)号：CN201434902Y
公开(公告)日：2010-03-31
申请号：CN200920097666.8
申请日：2009-07-08
申请人： 天津渤海易安泰电子半导体测试有限公司
IPC分类号： G01R31/317
摘要： 本实用新型涉及一种用于芯片测试机上的模拟数字混合信号芯片测试卡，该芯片测试卡设有芯片测试电路，芯片测试电路的系统接口模块通过总线与FPGA处理模块相连接，与配置芯片相连接的FPGA处理模块通过数字信号输出端与数模转换模块的输入端相连接，通过控制端与被测芯片载板相连接，数模转换模块的输出端与被测芯片载板的模拟信号输入端相连接，被测芯片载板的数字信号输出端与FPGA处理模块的数字信号输入端相连接。本实用新型设计合理，具有性能稳定、测试速度快、效率高、使用灵活方便等特点，满足了对模拟数字混合信号芯片的测试需要，同时，本芯片测试卡还可以与其他类型测试卡或功能板卡配合使用，实现了对不同类型芯片的测试需要。
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公开(公告)号：CN201434900Y
公开(公告)日：2010-03-31
申请号：CN200920097667.2
申请日：2009-07-08
申请人： 天津渤海易安泰电子半导体测试有限公司
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本实用新型涉及一种新型集成电路芯片测试机，包括机壳及其内部的测试机主板、交流信号卡组和直流信号卡组，交流信号卡组和直流信号卡组相互连接并分别安装在测试机主板上，该测试机主板分别与PC控制机、被测芯片载板相连接，其主要技术特点是：在测试机主板上还安装有数模芯片测试卡和模数芯片测试卡。本实用新型设计合理，实现了对不同类型集成电路芯片的测试功能，降低了集成电路生产厂家的设备投入，并节约了设备的运行维护成本，具有测试范围广、性能稳定、测试速度快、效率高、使用灵活方便等特点。
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公开(公告)号：CN201434901Y
公开(公告)日：2010-03-31
申请号：CN200920097665.3
申请日：2009-07-08
申请人： 天津渤海易安泰电子半导体测试有限公司
IPC分类号： G01R31/3167 , H03K19/177 , H03M1/12
摘要： 本实用新型涉及一种用于芯片测试机上的数字模拟混合信号芯片测试卡，该芯片测试卡设有芯片测试电路，芯片测试电路的接口模块通过总线与FPGA处理模块相连接，与配置芯片相连接的FPGA处理模块分别通过控制端与模数转换模块、被测芯片载板相连接，通过数字信号输出端与被测芯片载板相连接，该被测芯片载板的模拟信号输出端与模数转换模块的输入端相连接，被测芯片载板的数据时钟信号及状态信号分别与FPGA处理模块相连接，该模数转换模块的控制端与被测芯片载板相连接，模数转换模块的输出端与FPGA处理模块的数字信号输入端相连接。本实用新型设计合理，具有性能稳定、测试速度快、效率高、使用灵活方便等特点，实现对数字模拟混合信号芯片的测试功能。
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