• 专利标题: 利用定量测量电弧事件的概率性模型进行电弧探测的宽带采样应用
  • 专利标题(英): Application of wideband sampling for arc detection with a probabilistic model for quantitatively measuring arc events
  • 申请号: CN200880114415.4
    申请日: 2008-11-13
  • 公开(公告)号: CN101843178A
    公开(公告)日: 2010-09-22
  • 发明人: 戴维·J·库莫
  • 申请人: MKS仪器有限公司
  • 申请人地址: 美国马萨诸塞州
  • 专利权人: MKS仪器有限公司
  • 当前专利权人: MKS仪器有限公司
  • 当前专利权人地址: 美国马萨诸塞州
  • 代理机构: 北京德琦知识产权代理有限公司
  • 代理商 罗正云; 王琦
  • 优先权: 12/031,171 2008.02.14 US; 12/175,867 2008.07.18 US
  • 国际申请: PCT/US2008/083347 2008.11.13
  • 国际公布: WO2009/102358 EN 2009.08.20
  • 进入国家日期: 2010-04-30
  • 主分类号: H05H1/24
  • IPC分类号: H05H1/24 G01R29/00 H01H9/30 H01J23/00
利用定量测量电弧事件的概率性模型进行电弧探测的宽带采样应用
摘要:
一种用于等离子体发生系统的电弧探测系统,包括:射频(RF)传感器,该RF传感器基于与等离子体室相连通的(RF)电源信号的电特性产生相应的第一信号和第二信号。相关模块基于所述第一信号和所述第二信号产生电弧探测信号。所述电弧探测信号指示所述等离子体室中是否正在发生电弧,并且该电弧探测信号被用来改变所述RF电源信号的特征以熄灭所述电弧。
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