发明授权
- 专利标题: III族氮化物半导体晶体、III族氮化物半导体器件以及发光器件
- 专利标题(英): III nitride semiconductor crystal, III nitride semiconductor device, and light emitting device
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申请号: CN201010171268.3申请日: 2005-05-13
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公开(公告)号: CN101882571B公开(公告)日: 2012-07-18
- 发明人: 中畑成二 , 中幡英章 , 上松康二 , 木山诚 , 永井阳一 , 中村孝夫
- 申请人: 住友电气工业株式会社
- 申请人地址: 日本大阪府大阪市
- 专利权人: 住友电气工业株式会社
- 当前专利权人: 住友电气工业株式会社
- 当前专利权人地址: 日本大阪府大阪市
- 代理机构: 中原信达知识产权代理有限责任公司
- 代理商 梁晓广; 关兆辉
- 优先权: 2004-147914 2004.05.18 JP; 2005-117967 2005.04.15 JP
- 分案原申请号: 2005800160353 2005.05.13
- 主分类号: H01L21/20
- IPC分类号: H01L21/20 ; H01L33/20 ; H01L33/32
摘要:
本发明提供其尺寸适于半导体器件的III族氮化物半导体晶体及其有效的制造方法、III族氮化物半导体器件及其有效的制造方法、以及发光设备。制造III族氮化物半导体晶体的方法包括在开始衬底上生长至少一个III族氮化物半导体晶体的步骤、在III族氮化物半导体晶体衬底上生长至少一个III族氮化物半导体晶体层的步骤、以及从所述开始衬底分离由III族氮化物半导体晶体衬底和III族氮化物半导体晶体层所构成的III族氮化物半导体晶体的步骤,并且其特征在于所述III族氮化物半导体晶体的厚度是10μm或以上但是600μm或以下,以及宽度是0.2mm或以上但是50mm或以下。
公开/授权文献
- CN101882571A III族氮化物半导体晶体、III族氮化物半导体器件以及发光器件 公开/授权日:2010-11-10