发明公开
- 专利标题: X射线成像装置、X射线成像方法和X射线成像装置的控制方法
- 专利标题(英): X-ray imaging apparatus, X-ray imaging method and method of controlling X-ray imaging apparatus
-
申请号: CN200980108149.9申请日: 2009-03-11
-
公开(公告)号: CN101960298A公开(公告)日: 2011-01-26
- 发明人: 向出大平 , 高田一广 , 渡边壮俊
- 申请人: 佳能株式会社
- 申请人地址: 日本东京
- 专利权人: 佳能株式会社
- 当前专利权人: 佳能株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京
- 代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 康建忠
- 优先权: 2008-062788 2008.03.12 JP
- 国际申请: PCT/JP2009/055215 2009.03.11
- 国际公布: WO2009/113713 EN 2009.09.17
- 进入国家日期: 2010-09-07
- 主分类号: G01N23/04
- IPC分类号: G01N23/04 ; G01N23/20 ; G21K7/00
摘要:
一种简化的X射线成像装置即使对于轻元素也能够以小的误差因数计算确定有效原子序数。X射线成像装置具有用于产生X射线的X射线产生单元101(400)和用于检测透过被检体104(403)的X射线的检测器105(405)。计算单元106(406)从由检测器检测的数据计算确定可归因于被检体的X射线相位的量和被检体的X射线透射率。计算单元还从由X射线相位的量确定的ρet和由X射线透射率确定的μt计算确定被检体的有效原子序数。
公开/授权文献
- CN101960298B X射线成像装置、X射线成像方法和X射线成像装置的控制方法 公开/授权日:2013-01-16