发明授权
- 专利标题: 带电粒子束曝光系统
- 专利标题(英): Charged particle beam exposure system
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申请号: CN201010520806.5申请日: 2005-04-29
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公开(公告)号: CN102005358B公开(公告)日: 2012-09-12
- 发明人: 皮特·克鲁特
- 申请人: 迈普尔平版印刷IP有限公司
- 申请人地址: 荷兰代尔夫特
- 专利权人: 迈普尔平版印刷IP有限公司
- 当前专利权人: ASML荷兰有限公司
- 当前专利权人地址: 荷兰代尔夫特
- 代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 秦晨
- 优先权: 60/572,287 20040517 US
- 分案原申请号: 2005800212023 2005.04.29
- 主分类号: H01J37/06
- IPC分类号: H01J37/06 ; H01J37/147 ; H01J37/317
摘要:
本发明涉及一种用于将图案转移到目标的表面上的带电粒子束曝光装置,包括:射束发生器,它包括基本在一个平面中的多个n个带电粒子源(1),每个源适合于产生带电粒子束;第一孔径阵列(4),它包括多组孔径,每组孔径对准一个源,以将每个射束分裂成多个细射束m,从而导致总共n×m个细射束;以及偏转器阵列(6),它包括多组偏转器,每组偏转器对准一个源和一组孔径,一个组中的每个偏转器对准相应组的孔径,并且每组偏转器可用于确证对其相应射束的准直影响。
公开/授权文献
- CN102005358A 带电粒子束曝光系统 公开/授权日:2011-04-06