粘接带和引线框架的层压方法
摘要:
本发明总体涉及粘接带和引线框架的层压方法,并且更具体地涉及可以减小制造半导体装置的粘接带被贴附至引线框架的热层压工艺之后引线框架的翘曲的粘接带和引线框架层压方法,且其满足层压工艺所要求的所有性能,并且克服了例如来自在现有技术半导体装置制造工艺中已经被使用过的粘接带的粘接剂残留物的产生和密封树脂的泄漏的缺点。为此,根据本发明的粘接带和引线框架的层压方法的特征在于,粘接带表面的层压温度和引线框架表面的层压温度在引线框架和制造电子部件的粘接带的层压工艺中相互不同,并且优选引线框架表面的层压温度低于粘接带表面的层压温度1~200℃。
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