发明公开
CN102023141A 具有灵活测量几何的变温显微磁光电测试系统
失效 - 权利终止
- 专利标题: 具有灵活测量几何的变温显微磁光电测试系统
- 专利标题(英): Variable-temperature microscopic magnetic photoelectric testing system with flexible measuring geometry
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申请号: CN200910093882.X申请日: 2009-09-23
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公开(公告)号: CN102023141A公开(公告)日: 2011-04-20
- 发明人: 吴昊 , 郑厚植 , 朱汇 , 李韫慧
- 申请人: 中国科学院半导体研究所
- 申请人地址: 北京市海淀区清华东路甲35号
- 专利权人: 中国科学院半导体研究所
- 当前专利权人: 中国科学院半导体研究所
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区清华东路甲35号
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 汤保平
- 主分类号: G01N21/39
- IPC分类号: G01N21/39 ; G01N21/64 ; G01N21/66 ; G01N21/19
摘要:
一套具有灵活测量几何的变温显微磁光电测试系统,包括:一掺钛蓝宝石激光器,在其出射光路上依次排列有斩波器、宽波段线偏振片、光弹调制器、第一宽带消偏振分光棱镜、第二宽带消偏振分光棱镜、第一物镜和液氮杜瓦;该第二宽带消偏振分光棱镜的折射光路上还包括一摄像头及与其连接的显示器,在摄像头之后的光路上有一第二物镜,在第二物镜之后通过光纤连接有一单色仪及其配套的探测器;斩波器与一控制器连接;光弹调制器与一控制器连接;第一宽带消偏振分光棱镜的折射光路上还包括一照明光源及探测器;第二宽带消偏振分光棱镜的折射光路上还包扩一摄像头及与其连接的显示器;一钕铁硼永磁体,同轴但不接触地套在液氮杜瓦的前端;还包括一直流电流源,其两个输出端口通过导线与样品连接。
公开/授权文献
- CN102023141B 具有灵活测量几何的变温显微磁光电测试系统 公开/授权日:2012-08-22