发明授权
- 专利标题: 自对准金属硅化物的形成方法
- 专利标题(英): Method for forming self-aligned metallic silicide
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申请号: CN201010105400.0申请日: 2010-01-28
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公开(公告)号: CN102142366B公开(公告)日: 2013-04-03
- 发明人: 石永昱 , 王栩
- 申请人: 无锡华润上华半导体有限公司 , 无锡华润上华科技有限公司
- 申请人地址: 江苏省无锡市国家高新技术产业开发区汉江路5号
- 专利权人: 无锡华润上华半导体有限公司,无锡华润上华科技有限公司
- 当前专利权人: 无锡华润上华科技有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省无锡市国家高新技术产业开发区汉江路5号
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 李丽
- 主分类号: H01L21/28
- IPC分类号: H01L21/28 ; H01L21/336 ; H01L21/76 ; H01L21/768
摘要:
一种自对准金属硅化物的形成方法,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底包括第一区域和第二区域,所述第一区域的半导体衬底表面至少有一硅区域;在所述第二区域形成覆盖所述半导体衬底的隔离层;采用射频溅射去除所述硅区域的自然氧化层;采用射频溅射形成覆盖所述硅区域、隔离层的金属层;采用射频溅射在所述金属层表面形成保护层;对所述半导体衬底进行退火,形成金属硅化物层;去除保护层和未反应的金属层。本发明提供的自对准金属硅化物的形成方法效率高,能耗低。
公开/授权文献
- CN102142366A 自对准金属硅化物的形成方法 公开/授权日:2011-08-03