发明授权
CN102148229B 存储元件及半导体装置
失效 - 权利终止
- 专利标题: 存储元件及半导体装置
- 专利标题(英): Memory element, and semiconductor device
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申请号: CN201110026947.6申请日: 2007-07-27
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公开(公告)号: CN102148229B公开(公告)日: 2013-01-23
- 发明人: 汤川干央 , 杉泽希
- 申请人: 株式会社半导体能源研究所
- 申请人地址: 日本神奈川
- 专利权人: 株式会社半导体能源研究所
- 当前专利权人: 株式会社半导体能源研究所
- 当前专利权人地址: 日本神奈川
- 代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 王以平
- 优先权: 2006-206685 2006.07.28 JP
- 分案原申请号: 2007101367785 2007.07.27
- 主分类号: H01L27/112
- IPC分类号: H01L27/112 ; H01L27/12 ; G11C13/00 ; H01L21/8246 ; H01L21/84
摘要:
本发明提供一种存储元件、半导体装置。其目的在于减少每个存储元件中的写入工作的不均匀性,其目的还在于提供安装有所述存储元件且写入特性优良的半导体装置。本发明的存储元件包括第一导电层、金属氧化物层、半导体层、有机化合物层、第二导电层,并且金属氧化物层、半导体层、以及有机化合物层被第一导电层和第二导电层夹持,金属氧化物层与第一导电层接触,与金属氧化物层接触地设置半导体层。通过采用这种结构,减少了每个存储元件中的写入动作的不均匀性。
公开/授权文献
- CN102148229A 存储元件及半导体装置 公开/授权日:2011-08-10
IPC分类: