发明授权
CN102181826B 镓钼共掺杂铟锡氧化物陶瓷靶、透明导电薄膜及制备方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 镓钼共掺杂铟锡氧化物陶瓷靶、透明导电薄膜及制备方法
- 专利标题(英): Gallium-molybdenum-codoped indium tin oxide ceramic target, gallium-molybdenum-codoped indium tin oxide transparent conductive film and preparation method
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申请号: CN201110075427.4申请日: 2011-03-28
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公开(公告)号: CN102181826B公开(公告)日: 2012-07-04
- 发明人: 何军辉 , 刘振华 , 刘拥军
- 申请人: 扬州大学
- 申请人地址: 江苏省扬州市大学南路88号
- 专利权人: 扬州大学
- 当前专利权人: 扬州大学
- 当前专利权人地址: 江苏省扬州市大学南路88号
- 代理机构: 扬州苏中专利事务所
- 代理商 许必元
- 主分类号: C23C14/08
- IPC分类号: C23C14/08 ; C23C14/28 ; C23C14/34 ; C04B35/01 ; C04B35/622
摘要:
本发明公开了镓钼共掺杂铟锡氧化物陶瓷靶、透明导电薄膜及制备方法。将In2O3、SnO2、Ga2O3、MoO3粉体和无水乙醇混合经球磨、预合成、再球磨、造粒、成型、烧结、退火,制得镓钼共掺杂铟锡氧化物InSnGaMo陶瓷靶;将镓钼共掺杂铟锡氧化物(InSnGaMo)陶瓷靶材置于脉冲激光沉积装置中沉积,制得镓钼共掺杂铟锡氧化物(InSnGaMo)透明导电薄膜。本发明制备工艺简单,生产制造容易,可重复性性好,降低了生产成本。InSnGaMo陶瓷靶材具有价格较低,相对密度较高,电阻率更低的特性。InSnGaMo透明导电薄膜具有在高温下结构稳定且具有极低的电阻率(<10-4Ω·cm)和高的透光率(>90%),具有优良的电学和光学特性;同时具有良好的弱酸刻蚀性能。在透明电子学和新型光电器件领域具有广泛的应用前景。
公开/授权文献
- CN102181826A 镓钼共掺杂铟锡氧化物陶瓷靶、透明导电薄膜及制备方法 公开/授权日:2011-09-14
IPC分类: