Invention Grant
- Patent Title: 半导体发光器件及其制造方法
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Application No.: CN201010275579.4Application Date: 2010-09-08
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Publication No.: CN102194942BPublication Date: 2015-09-30
- Inventor: 木村重哉 , 名古肇 , 岡俊行 , 橘浩一 , 彦坂年輝 , 布上真也
- Applicant: 株式会社东芝
- Applicant Address: 日本东京都
- Assignee: 株式会社东芝
- Current Assignee: 株式会社东芝
- Current Assignee Address: 日本东京都
- Agency: 北京市中咨律师事务所
- Agent 杨晓光; 于静
- Priority: 050391/2010 2010.03.08 JP
- Main IPC: H01L33/12
- IPC: H01L33/12 ; H01L33/32

Abstract:
本发明涉及半导体发光器件及其制造方法。根据一个实施例,一种半导体发光器件包括包含氮化物半导体的n型半导体层、包含氮化物半导体的p型半导体层、发光部以及层叠体。所述发光部被设置在所述n型半导体层与所述p型半导体层之间并包括势垒层和阱层。所述阱层与所述势垒层层叠。所述层叠体被设置在所述发光部与所述n型半导体层之间并包括第一层和第二层。所述第二层与所述第一层层叠。所述层叠体的平均In组成比高于所述发光部的平均In组成比的0.4倍。所述势垒层的层厚度tb为10nm或更小。
Public/Granted literature
- CN102194942A 半导体发光器件及其制造方法 Public/Granted day:2011-09-21
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