抗刻蚀层、半导体处理装置及制作方法
摘要:
本发明实施例提供一种抗刻蚀层、半导体处理装置及其制作方法,所述半导体处理装置包括处理腔室,所述处理腔室用于通入源气体,对放置于处理腔室内的基片进行相应处理,且所述处理腔室还用于容纳等离子体,所述腔室内具有多个处理部件,所述半导体处理装置还包括:抗刻蚀层,覆盖于所述处理腔室和/或处理部件的暴露于等离子体的表面,所述抗刻蚀层用于抵抗等离子体的刻蚀和保护所述处理腔室和/或处理部件。本发明利用抗刻蚀层对处理腔室和处理部件进行保护,防止所述处理腔室和处理部件受到等离子体的损伤,并提高处理腔室和处理部件的使用寿命。
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