- 专利标题: 显微组件下跨尺度原位微纳米三点/四点弯曲测试装置
- 专利标题(英): Cross-scale in-situ micro-nanometer three-point/four-point bending test device under microscopic assembly
-
申请号: CN201110353825.8申请日: 2011-11-10
-
公开(公告)号: CN102494955B公开(公告)日: 2013-04-24
- 发明人: 赵宏伟 , 张霖 , 黄虎 , 胡晓利 , 史成利 , 马志超 , 王开厅 , 李泽君
- 申请人: 吉林大学
- 申请人地址: 吉林省长春市人民大街5988号
- 专利权人: 吉林大学
- 当前专利权人: 中机试验装备股份有限公司
- 当前专利权人地址: 吉林省长春市人民大街5988号
- 代理机构: 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司
- 代理商 王怡敏
- 主分类号: G01N3/20
- IPC分类号: G01N3/20 ; G01B11/16
摘要:
本发明涉及一种显微组件下跨尺度原位微纳米三点/四点弯曲测试装置,属于机械类。包括精密驱动控制单元、具有三自由度的调整单元、传动及执行单元、信号检测单元和连接支撑单元。其中精密驱动直流伺服电机通过柔性联轴器与一级涡轮相连,一级涡轮通过涡轮蜗杆传动副与二级涡轮相连,并且二级涡轮通过涡轮蜗杆传动副分别与引导杠Ⅰ、Ⅱ相连,进而带动弯曲测试冲头完成测试动作。本发明结构紧凑,功能可靠,安装方便,便于操作,并且可以通过位移、载荷高精度控制算法对加载测试过程进行补偿并对测试数据进行修正,能够放置在体积限制的多种商业化显微测试装置中,精确进行微小尺度材料试件弯曲性能测试。
公开/授权文献
- CN102494955A 显微组件下跨尺度原位微纳米三点/四点弯曲测试装置 公开/授权日:2012-06-13