发明公开
CN102511086A 氮化物系半导体元件及其制造方法
无效 - 撤回
- 专利标题: 氮化物系半导体元件及其制造方法
- 专利标题(英): Nitride semiconductor element and manufacturing method therefor
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申请号: CN201180003898.2申请日: 2011-03-25
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公开(公告)号: CN102511086A公开(公告)日: 2012-06-20
- 发明人: 横川俊哉 , 大屋满明 , 山田笃志 , 矶崎瑛宏
- 申请人: 松下电器产业株式会社
- 申请人地址: 日本大阪府
- 专利权人: 松下电器产业株式会社
- 当前专利权人: 松下电器产业株式会社
- 当前专利权人地址: 日本大阪府
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 汪惠民
- 优先权: 2010-085983 2010.04.02 JP
- 国际申请: PCT/JP2011/001764 2011.03.25
- 国际公布: WO2011/125301 JA 2011.10.13
- 进入国家日期: 2012-03-20
- 主分类号: H01L33/40
- IPC分类号: H01L33/40
摘要:
本发明提供一种氮化物系半导体元件及其制造方法。本发明的氮化物系半导体元件具备:半导体叠层构造(20),其具有表面(12)相对于m面倾斜了1°以上5°以下角度的p型半导体区域;和电极(30),其设置在p型半导体区域上。p型半导体区域由AlxInyGazN(x+y+z=1,x≥0,y≥0,z≥0)层(26)形成。电极(30)包含Zn层(32)和形成在Zn层(32)上的Ag层(34),Zn层(32)与半导体叠层构造(20)中的p型半导体区域的表面(12)接触。
IPC分类: