氮化物系半导体元件及其制造方法

    公开(公告)号:CN102754226B

    公开(公告)日:2015-07-15

    申请号:CN201180008915.1

    申请日:2011-04-27

    IPC分类号: H01L33/32 H01L33/36

    摘要: 本发明提供一种氮化物系半导体元件及其制造方法,该氮化物系半导体元件具备生长面为m面的p型AldGaeN层(25)、在p型AldGaeN层(25)上设置的电极(30),AldGaeN层(25)具有由厚度26nm以上60nm以下的AlxGayInzN(x+y+z=1,x≥0,y>0,z≥0)半导体形成的p-AldGaeN接触层(26),p-AldGaeN接触层(26)具有含有4×1019cm-3以上2×1020cm-3以下的Mg的主体区域(26A)、和与电极(30)相接并具有1×1021cm-3以上的Mg浓度的高浓度区域(26B)。