发明授权
- 专利标题: 一种红外辐射面均匀性测量装置及方法
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申请号: CN201310180556.9申请日: 2013-05-16
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公开(公告)号: CN103278311B公开(公告)日: 2015-12-09
- 发明人: 韩顺利 , 胡为良 , 罗文健
- 申请人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
- 申请人地址: 山东省青岛市经济技术开发区香江路98号
- 专利权人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
- 当前专利权人: 中电科思仪科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 山东省青岛市经济技术开发区香江路98号
- 代理机构: 北京科亿知识产权代理事务所
- 代理商 汤东凤
- 主分类号: G01M11/02
- IPC分类号: G01M11/02
摘要:
本发明提出了一种红外辐射面均匀性测量装置,包括:高分辨率小光点采样和成像光学系统、红外探测器、前置放大器、带通滤波器、主放大器及A/D转换电路、二维精密电控位移系统及其驱动电路、主控计算机及主接口电路;所述高分辨率小光点采样和成像光学系统将红外辐射面采样点聚焦于红外探测器上;所述主控计算机通过主接口电路将驱动指令传给二维精密电控位移系统;所述红外探测器将测量的红外辐射信号转换为电信号,经过前置放大器、主放大器及A/D转换电路后,送入主控计算机完成数据处理。本发明的红外辐射面均匀性测量装置结构简单,成本低;测试效率高,速度快;测点数量多,测量精度高;溯源容易。
公开/授权文献
- CN103278311A 一种红外辐射面均匀性测量装置及方法 公开/授权日:2013-09-04