Invention Grant
- Patent Title: 利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序
- Patent Title (English): Photometric analysis device, photometric analysis method, and computer program for photometric analysis, using single light-emitting particle detection
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Application No.: CN201280016619.0Application Date: 2012-03-26
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Publication No.: CN103460026BPublication Date: 2015-06-10
- Inventor: 叶梨拓哉 , 山口光城 , 田边哲也
- Applicant: 奥林巴斯株式会社
- Applicant Address: 日本东京都
- Assignee: 奥林巴斯株式会社
- Current Assignee: 奥林巴斯株式会社
- Current Assignee Address: 日本东京都
- Agency: 北京林达刘知识产权代理事务所
- Agent 刘新宇
- Priority: 2011-071545 2011.03.29 JP
- International Application: PCT/JP2012/057731 2012.03.26
- International Announcement: WO2012/133292 JA 2012.10.04
- Date entered country: 2013-09-29
- Main IPC: G01N21/64
- IPC: G01N21/64

Abstract:
提供一种在使用了共焦显微镜或多光子显微镜的光测量的扫描分子计数法中容易地设定用于去除噪声的基准的结构。本发明的对样本溶液中的发光粒子的光进行检测的光分析技术的特征在于,通过变更显微镜的光学系统的光路,生成一边使光检测区域的位置在样本溶液内移动一边检测出的来自光检测区域的光的时序光强度数据,在时序光强度数据中个别地检测发光粒子的信号。在发光粒子的信号的检测中,抽出光强度处于根据信号发生频率累加值分布而设定的光强度范围内的信号作为发光粒子的信号,该信号发生频率累加值分布是以信号的强度为变量而强度为该变量以上的信号的发生频率的累加值的分布。
Public/Granted literature
- CN103460026A 利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序 Public/Granted day:2013-12-18
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