• 专利标题: 利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序
  • 专利标题(英): Photometric analysis device, photometric analysis method, and computer program for photometric analysis, using single light-emitting particle detection
  • 申请号: CN201280016619.0
    申请日: 2012-03-26
  • 公开(公告)号: CN103460026B
    公开(公告)日: 2015-06-10
  • 发明人: 叶梨拓哉山口光城田边哲也
  • 申请人: 奥林巴斯株式会社
  • 申请人地址: 日本东京都
  • 专利权人: 奥林巴斯株式会社
  • 当前专利权人: 奥林巴斯株式会社
  • 当前专利权人地址: 日本东京都
  • 代理机构: 北京林达刘知识产权代理事务所
  • 代理商 刘新宇
  • 优先权: 2011-071545 2011.03.29 JP
  • 国际申请: PCT/JP2012/057731 2012.03.26
  • 国际公布: WO2012/133292 JA 2012.10.04
  • 进入国家日期: 2013-09-29
  • 主分类号: G01N21/64
  • IPC分类号: G01N21/64
利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序
摘要:
提供一种在使用了共焦显微镜或多光子显微镜的光测量的扫描分子计数法中容易地设定用于去除噪声的基准的结构。本发明的对样本溶液中的发光粒子的光进行检测的光分析技术的特征在于,通过变更显微镜的光学系统的光路,生成一边使光检测区域的位置在样本溶液内移动一边检测出的来自光检测区域的光的时序光强度数据,在时序光强度数据中个别地检测发光粒子的信号。在发光粒子的信号的检测中,抽出光强度处于根据信号发生频率累加值分布而设定的光强度范围内的信号作为发光粒子的信号,该信号发生频率累加值分布是以信号的强度为变量而强度为该变量以上的信号的发生频率的累加值的分布。
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